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講演抄録/キーワード
講演名 2020-07-31 15:45
テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2020-12 DC2020-12
抄録 (和) 近年,集積回路の高集積化・複雑化に伴い,セル内の欠陥が増加し,セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテスト生成法が提案されている.ゲート網羅故障は各セルに対して2のそのセルの入力数乗個定義されるため,縮退故障モデルと比較して,テスト生成の対象とする故障数やテストパターン数が増大する.本論文ではテストパターン数を削減するために,テスト生成時に1つのテストパターンでより多くのゲート網羅故障の検出を可能とする多重目標故障テスト生成法を提案する.本手法の適用により検出可能なゲート網羅故障をすべて検出するためのテストパターン数を従来手法と比較して19~48%削減することができた. 
(英) In recent years, as the high density and complexity of integrated circuits have increased, defects in cells have increased, and test generation methods for fault models in cells and test generation methods for gate-exhaustive fault models have been proposed. Since the number of gate-exhaustive faults is defined as the total sum of 2 to the power of the number of cell inputs, the number of faults and the number of test patterns drastically increase compared to the stuck-at fault model. In this paper, to reduce the number of test patterns, we propose a multiple target test generation method that enables detection of as many gate-exhaustive faults as possible with one test pattern during test generation. The proposed method was able to detect all detectable gate-exhaustive faults and to reduce the number of test patterns by 19 to 48% compared to the conventional method.
キーワード (和) ゲート網羅故障 / 多重目標故障テスト生成 / テスト圧縮 / 独立故障集合 / Partial MaxSAT / / /  
(英) gate-exhaustive faults / multiple target fault test generation / test compaction / independent fault sets / Partial MaxSAT / / /  
文献情報 信学技報, vol. 120, no. 122, DC2020-12, pp. 75-80, 2020年7月.
資料番号 DC2020-12 
発行日 2020-07-23 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPSY2020-12 DC2020-12

研究会情報
研究会 CPSY DC IPSJ-ARC  
開催期間 2020-07-30 - 2020-07-31 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) SWoPP2020: 並列/分散/協調システムとディペンダブルコンピューティングおよび一般 
テーマ(英) SWoPP2020: Parallel, Distributed and Cooperative Processing Systems and Dependable Computing 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2020-07-CPSY-DC-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the number of Test Patterns 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ゲート網羅故障 / gate-exhaustive faults  
キーワード(2)(和/英) 多重目標故障テスト生成 / multiple target fault test generation  
キーワード(3)(和/英) テスト圧縮 / test compaction  
キーワード(4)(和/英) 独立故障集合 / independent fault sets  
キーワード(5)(和/英) Partial MaxSAT / Partial MaxSAT  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 浅見 竜輝 / Ryuki Asami / アサミ リュウキ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第3著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyo University (略称: Kyoto Sangyo Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第4著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
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講演者
発表日時 2020-07-31 15:45:00 
発表時間 30 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-CPSY2020-12,IEICE-DC2020-12 
巻番号(vol) IEICE-120 
号番号(no) no.121(CPSY), no.122(DC) 
ページ範囲 pp.75-80 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CPSY-2020-07-23,IEICE-DC-2020-07-23 


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