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講演抄録/キーワード
講演名 2020-03-11 10:45
Calibrated Surrogate Maximization of Linear-Fractional Utility in Binary Classification
Han BaoUniv. of Tokyo/RIKEN)・Masashi SugiyamaRIKEN/Univ. of Tokyo
抄録 (和) (開催日以降に掲載されます) 
(英) (Available after conference date)
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) binary classification / F-measure / Jaccard index / surrogate loss / classification calibration / calibrated surrogate loss / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 IBISML  
開催期間 2020-03-10 - 2020-03-11 
開催地(和) 京都大学 
開催地(英) Kyoto University 
テーマ(和) 機械学習一般 
テーマ(英) Machine learning, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IBISML 
会議コード 2020-03-IBISML 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Calibrated Surrogate Maximization of Linear-Fractional Utility in Binary Classification 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) / binary classification  
キーワード(2)(和/英) / F-measure  
キーワード(3)(和/英) / Jaccard index  
キーワード(4)(和/英) / surrogate loss  
キーワード(5)(和/英) / classification calibration  
キーワード(6)(和/英) / calibrated surrogate loss  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 包 含 / Han Bao / ツツミ フクム
第1著者 所属(和/英) 東京大学/理化学研究所 (略称: 東大/理研)
The University of Tokyo/RIKEN (略称: Univ. of Tokyo/RIKEN)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 杉山 将 / Masashi Sugiyama /
第2著者 所属(和/英) 理化学研究所/東京大学 (略称: 理研/東大)
RIKEN/The University of Tokyo (略称: RIKEN/Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
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講演者
発表日時 2020-03-11 10:45:00 
発表時間 25 
申込先研究会 IBISML 
資料番号  
巻番号(vol)  
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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