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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2020-03-07 10:55 Non-IID PUFのエントロピー低下要因とエントロピー見積もり手法 (2) ○汐﨑 充（立命館大）・堀 洋平（産総研）・大倉俊介・白畑正芳・藤野 毅（立命館大）  VLD2019-139 HWS2019-112 |
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| 抄録 | （和） | Physically Unclonable Function (PUF)の国際標準化が現在進められており，PUFの評価項目や評価手順に関する議論が進められている．PUFの性能評価指標の１つに最小エントロピーがあるが，PUFレスポンスがNon-IIDである場合のエントロピーを見積もった研究は数少ない．(1)の報告でエントロピー低下の要因を３種類に分類した．本論ではレスポンスがNon-IIDとなる要因の１つであるマルチソースによってエントロピーが低下した時に，最小エントロピーをどのように評価すべきかをCMOS image sensor with a PUF (CIS PUF)を用いて検討した結果について報告する． |
| （英） | Recently, evaluation items and evaluation schemes of Physically Unclonable Functions (PUFs) are discussed in international standardization activities. When PUFs are applied to applications such as key generation, min-entropy estimation is essential. However, few studies have focused on non-independent and identically distributed (IID) PUFs. In this paper, we propose a method to estimate the entropy of the multiple sources, which is one of the entropy-loss causes and makes responses non-IID. The min-entropy of our CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) is estimated as a case study. In addition, when the pairwise comparison is applied to our CIS PUF, we discuss how much entropy our CIS PUF has. | |
| キーワード | （和） | Physically Unclonable Function (PUF) / 最小エントロピー / CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) / / / / / |
| （英） | Physically Unclonable Function (PUF) / Min-Entropy / CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 119, no. 444, HWS2019-112, pp. 263-268, 2020年3月. | |
| 資料番号 | HWS2019-112 | |
| 発行日 | 2020-02-26 (VLD, HWS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2019-139 HWS2019-112 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS VLD |
| 開催期間 | 2020-03-04 - 2020-03-07 |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Ken Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2020-03-HWS-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | Non-IID PUFのエントロピー低下要因とエントロピー見積もり手法 (2) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Causes of Entropy Loss on Non-IID PUFs and their Entropy Estimations (2) |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Physically Unclonable Function (PUF) / Physically Unclonable Function (PUF) |
| キーワード(2)（和/英） | 最小エントロピー / Min-Entropy |
| キーワード(3)（和/英） | CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) / CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 汐﨑 充 / Mitsuru Shiozaki / シオザキ ミツル |
| 第1著者 所属（和/英） | 立命館大学 (略称： 立命館大) Ritsumeikan University (略称： Ritsumeikan Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堀 洋平 / Yohei Hori / ホリ ヨウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大倉 俊介 / Shunsuke Okura / オオクラ シュンスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 立命館大学 (略称： 立命館大) Ritsumeikan University (略称： Ritsumeikan Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 白畑 正芳 / Masayoshi Shirahata / シラハタ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 立命館大学 (略称： 立命館大) Ritsumeikan University (略称： Ritsumeikan Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤野 毅 / Takeshi Fujino / フジノ タケシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 立命館大学 (略称： 立命館大) Ritsumeikan University (略称： Ritsumeikan Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2020-03-07 10:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | VLD2019-139, HWS2019-112 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | no.443(VLD), no.444(HWS) |
| ページ範囲 | pp.263-268 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-26 (VLD, HWS) |
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