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講演抄録/キーワード
講演名 2020-02-26 14:10
パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2019-92
抄録 (和) 近年,実速度スキャンテストにおいて,過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている.キャプチャ時消費電力を削減するための手法として,ドントケア(X)判定法とX割当て法を用いた低消費電力指向テスト生成手法が提案されている.従来のX判定法とX割当て法は,キャプチャ時消費電力削減の最適化問題を独立に考えているため,X割当てによる低消費テストベクトルの生成はX判定法の結果に依存するという問題点が挙げられる.本論文では,低消費電力指向X判定・割当て同時最適化手法を提案する.提案手法では,X判定の正当化処理とX割当ての信号遷移抑制のための論理値割当てを同時に実行することで,さらに効率の良い低消費電力指向テスト生成を実現する.実験結果は,従来手法と比較して,キャプチャアンセーフテストベクトル数を平均31.63%,アンセーフ故障数を平均31.84%削減したことを示す. 
(英) Recently, in at-speed scan testing, excessive capture power dissipation is a serious problem. Low capture power test generation methods using X-identification and X-filling techniques have been proposed to reduce capture power dissipation. Optimization problems for these two techniques to reduce low capture power dissipation are independently considered. Therefore, the efficiency of low capture power test generation using X-filling depends on the applied results of X-identification. In this paper, we propose an X-identification-filling co-optimization method to reduce the number of capture-unsafe test vectors using Partial MaxSAT Solver. The method assigns logic values to X-bits in order to justify values assigned to propagate target faults to pseudo primary outputs and to reduce the number of transitions on as many internal signal lines as possible. Experimental results show that our proposed method reduced the number of capture unsafe test vectors by 31.63% and the number of unsafe faults by 31.84% on average.
キーワード (和) ドントケア判定・割当て同時最適化 / 低キャプチャ消費電力 / パーシャルMaxSAT / キャプチャアンセーフテストベクトル / アンセーフ故障 / / /  
(英) X-identification-filling co-optimization / low capture power / Partial MaxSAT / capture-unsafe test vectors / unsafe faults / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 420, DC2019-92, pp. 37-42, 2020年2月.
資料番号 DC2019-92 
発行日 2020-02-19 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2019-92

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2020-02-26 - 2020-02-26 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英)  
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2020-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Don’t Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Power Testing Using Partial Max-SAT 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ドントケア判定・割当て同時最適化 / X-identification-filling co-optimization  
キーワード(2)(和/英) 低キャプチャ消費電力 / low capture power  
キーワード(3)(和/英) パーシャルMaxSAT / Partial MaxSAT  
キーワード(4)(和/英) キャプチャアンセーフテストベクトル / capture-unsafe test vectors  
キーワード(5)(和/英) アンセーフ故障 / unsafe faults  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三澤 健一郎 / Kenichiro Misawa / ミサワ ケンイチロウ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon Univercity (略称: Nihon Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon Univercity (略称: Nihon Univ)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon Univercity (略称: Nihon Univ)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura /
第4著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyouto Sangyo Univercity (略称: Kyouto Sangyo Univ)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第5著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon Univercity (略称: Nihon Univ)
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講演者
発表日時 2020-02-26 14:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2019-92 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.420 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2020-02-19 


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