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講演抄録/キーワード
講演名 2020-01-31 14:10
[特別講演]THzイメージングに向けた高精度かつ高速な誘電率測定システム
徐 照男濱田裕史松崎秀昭野坂秀之NTTED2019-100 MW2019-134
抄録 (和) テラヘルツ波の位相情報を用いた誘電率イメージングは非金属物を検出する有効な手段の一つであり、食品異物検査等の非破壊検査への応用が期待されている。しかし、従来の誘電率測定システムは測定精度と測定速度に課題があった。本研究では誘電率測定の高精度化手法と、精度と両立可能な測定速度向上手法を提案する。高い精度を維持しながら測定時間を従来の1/200に短縮可能なことを実証したので報告する。 
(英) THz permittivity imaging using phase information is an effective solution for detecting non-metallic matter and is expected to be applied to non-destructive inspection such as food inspection. However, conventional permittivity measurement systems have problems with low accuracy and slow speed. In this study, we propose a high-accuracy and high-speed permittivity measurement system that demonstrated the measurement time can be shortened to 1/200 while maintaining high accuracy.
キーワード (和) テラヘルツ / イメージング / 誘電率測定 / 位相誤差 / セルフヘテロダイン / / /  
(英) Terahertz / imaging / permittivity measurement / phase noise / self-heterodyne / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 409, MW2019-134, pp. 35-40, 2020年1月.
資料番号 MW2019-134 
発行日 2020-01-24 (ED, MW) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ED2019-100 MW2019-134

研究会情報
研究会 ED MW  
開催期間 2020-01-31 - 2020-01-31 
開催地(和) 機械振興会館 地下3階6号室 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 化合物半導体ICおよび超高速・超高周波デバイス/マイクロ波/一般 
テーマ(英) Compound semiconductor, High speed and High frequency devices/Microwave technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MW 
会議コード 2020-01-ED-MW 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) THzイメージングに向けた高精度かつ高速な誘電率測定システム 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An Accurate and Fast Permittivity Measurement System for Terahertz imaging 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テラヘルツ / Terahertz  
キーワード(2)(和/英) イメージング / imaging  
キーワード(3)(和/英) 誘電率測定 / permittivity measurement  
キーワード(4)(和/英) 位相誤差 / phase noise  
キーワード(5)(和/英) セルフヘテロダイン / self-heterodyne  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 徐 照男 / Teruo Jyo / ジョ テルオ
第1著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 濱田 裕史 / Hiroshi Hamada / ハマダ ヒロシ
第2著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 松崎 秀昭 / Hideaki Matsuzaki / マツザキ ヒデアキ
第3著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 野坂 秀之 / Hideyuki Nosaka / ノサカ ヒデユキ
第4著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION (略称: NTT)
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講演者
発表日時 2020-01-31 14:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 MW 
資料番号 IEICE-ED2019-100,IEICE-MW2019-134 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.408(ED), no.409(MW) 
ページ範囲 pp.35-40 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ED-2020-01-24,IEICE-MW-2020-01-24 


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