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講演抄録/キーワード
講演名 2019-12-20 16:30
長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大)・麻生正雄二見治司松永恵士シスウェーブ)・三浦幸也首都大東京DC2019-85
抄録 (和) 最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.回路の劣化による遅延の増加を検出するには,フィールドで定期的に遅延測定を行うことが有効である.著者らは,論理回路の組込み自己テストに可変なテストクロックを用いるオンチップ遅延測定手法を提案し,実証実験を進めている.本研究では,提案した遅延測定回路の機能確認とその機能を利用したチップの劣化現象の観測を目的として,遅延測定回路のチップ試作とバーイン装置を使った長期的信頼性試験による遅延測定を行った.本稿は,実際に試作チップを高温で高電圧のストレス環境におくことで劣化現象である回路の遅延増加を確認できることを示し,提案したオンチップ遅延測定回路による劣化検知への有効性について議論する. 
(英) Avoidance of delay-related faults due to aging phenomena is an important issue of VLSI systems. Periodical delay measurement in-field is useful for not only fault detection but also fault prediction for such faults. An on-chip delay measurement method based on BIST (Built-In Self-Test) with variable test clock generation has been proposed. In this work experiments using a test chip of the delay measurement circuit was done for observing aging phenomenon in long-term reliability test. Aging is accelerated by exposing the chip to high stress condition such as high temperature and high voltage. The effectiveness of degradation detection using the on-chip delay measurement circuit is discussed by evaluation with long-term reliability test.
キーワード (和) フィールドテスト / 論理BIST / 遅延測定 / 劣化検知 / 長期信頼性試験 / / /  
(英) Field test / Logic BIST / Delay measurement / Degradation detection / Long-term reliability test / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 351, DC2019-85, pp. 37-42, 2019年12月.
資料番号 DC2019-85 
発行日 2019-12-13 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2019-85

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2019-12-20 - 2019-12-20 
開催地(和) 南紀くろしお商工会 
開催地(英)  
テーマ(和) (第4回) Winter Workshop on Safety(安全性に関する冬のワークショップ) - (共催:日本信頼性学会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-12-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Aging Observation using On-Chip Delay Measurement in Long-term Reliability Test 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) フィールドテスト / Field test  
キーワード(2)(和/英) 論理BIST / Logic BIST  
キーワード(3)(和/英) 遅延測定 / Delay measurement  
キーワード(4)(和/英) 劣化検知 / Degradation detection  
キーワード(5)(和/英) 長期信頼性試験 / Long-term reliability test  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 麻生 正雄 / Masao Aso / アソウ マサオ
第4著者 所属(和/英) 株式会社 シスウェーブ (略称: シスウェーブ)
Syswave Corp. (略称: Syswave)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 二見 治司 / Haruji Futami / フタミ ハルジ
第5著者 所属(和/英) 株式会社 シスウェーブ (略称: シスウェーブ)
Syswave Corp. (略称: Syswave)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 松永 恵士 / Satoshi Matsunaga / マツナガ サトシ
第6著者 所属(和/英) 株式会社 シスウェーブ (略称: シスウェーブ)
Syswave Corp. (略称: Syswave)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 三浦 幸也 / Yukiya Miura / ミウラ ユキヤ
第7著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: TMU)
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講演者
発表日時 2019-12-20 16:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2019-85 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.351 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2019-12-13 


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