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講演抄録/キーワード
講演名 2019-12-20 16:30
長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大)・麻生正雄二見治司松永恵士シスウェーブ)・三浦幸也首都大東京
抄録 (和) (開催日以降に掲載されます) 
(英) (Available after conference date)
キーワード (和) フィールドテスト / 論理BIST / 遅延測定 / 劣化検知 / 長期信頼性試験 / / /  
(英) Field test / Logic BIST / Delay measurement / Degradation detection / Long-term reliability test / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2019-12-20 - 2019-12-20 
開催地(和) 南紀くろしお商工会 
開催地(英)  
テーマ(和) (第4回) Winter Workshop on Safety(安全性に関する冬のワークショップ) - (共催:日本信頼性学会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-12-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Aging Observation using On-Chip Delay Measurement in Long-term Reliability Test 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) フィールドテスト / Field test  
キーワード(2)(和/英) 論理BIST / Logic BIST  
キーワード(3)(和/英) 遅延測定 / Delay measurement  
キーワード(4)(和/英) 劣化検知 / Degradation detection  
キーワード(5)(和/英) 長期信頼性試験 / Long-term reliability test  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 麻生 正雄 / Masao Aso / アソウ マサオ
第4著者 所属(和/英) 株式会社 シスウェーブ (略称: シスウェーブ)
Syswave Corp. (略称: Syswave)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 二見 治司 / Haruji Futami / フタミ ハルジ
第5著者 所属(和/英) 株式会社 シスウェーブ (略称: シスウェーブ)
Syswave Corp. (略称: Syswave)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 松永 恵士 / Satoshi Matsunaga / マツナガ サトシ
第6著者 所属(和/英) 株式会社 シスウェーブ (略称: シスウェーブ)
Syswave Corp. (略称: Syswave)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 三浦 幸也 / Yukiya Miura / ミウラ ユキヤ
第7著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: TMU)
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講演者
発表日時 2019-12-20 16:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号  
巻番号(vol)  
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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