講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-11-22 14:20
光音響・発光同時計測によるInGaN量子井戸の内部量子効率の推定 ○森 恵人・高橋佑知・森本悠也・山口敦史(金沢工大)・草薙 進・蟹谷裕也・工藤喜弘・冨谷茂隆(ソニー) ED2019-57 CPM2019-76 LQE2019-100 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2019-57 CPM2019-76 LQE2019-100 |
抄録 |
(和) |
窒化物半導体の光学的性質を正しく理解するためには,まず内部量子効率(IQE: Internal Quantum Efficiency)を正確に測定することが重要であると考えられる.これまでに,我々は光音響(PA : Photoacoustic)・発光(PL: Photoluminescence)同時計測によるIQE測定をGaN膜に適用し妥当な結果を得ている.しかしながら,この測定をInGaN単一量子井戸(SQW: Single Quantum Well)において行う場合,活性層がGaN膜に比べ非常に薄いため,PA信号強度が小さく,再現性のあるIQE測定が難しいという課題があった.そこで本研究では,PA測定のノイズ低減を行い,S/N比を1桁以上改善することに成功した.そして,この手法を用いて品質の異なる種々のInGaN SQWに対してIQE測定を行った. |
(英) |
In order to comprehensively understand the optical properties of nitride semiconductors, we believe accurate measurement of internal quantum efficiency (IQE) would be very important. In our previous studies, we performed simultaneous photoacoustic (PA) and photoluminescence (PL) measurements to estimate IQE values of GaN films and obtained reasonable results. However, the measurement was not very easy for InGaN single quantum well (SQW) samples because the active layers in InGaN SQW samples are very thin, and S/N ratio was too small to obtain reproducible results. In this study, we have successfully reduced the noise level of PA measurements by one order of magnitude. By using this method, we have measured the IQE values for various InGaN SQW samples with different qualities. |
キーワード |
(和) |
InGaN / 量子井戸 / 内部量子効率 / 光音響 / 輻射再結合 / / / |
(英) |
InGaN / quantum well / internal quantum efficiency / photo-acoustic / radiative recombination / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 304, LQE2019-100, pp. 101-106, 2019年11月. |
資料番号 |
LQE2019-100 |
発行日 |
2019-11-14 (ED, CPM, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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PDFダウンロード |
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