講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-11-22 14:00
InGaN量子井戸におけるMobility Edgeの見積り方法に関する実験的・理論的検討 ○藤田貴志・坂井繁太・池田優真・山口敦史(金沢工大)・草薙 進・蟹谷裕也・工藤喜弘・冨谷茂隆(ソニー) ED2019-56 CPM2019-75 LQE2019-99 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2019-56 CPM2019-75 LQE2019-99 |
抄録 |
(和) |
InGaN混晶は、組成を変えることで理論上可視光域全域をカバー可能な半導体材料である。InGaN量子井戸における組成揺らぎは光デバイスの特性に大きな影響を与えるため、その特性向上や新機能付加には電子状態の理解が必要である。Mobility edgeの位置は組成揺らぎの一つの指標になり得るが、評価方法により異なる結果が得られている。我々は、この不一致の原因を解明するために、速度方程式を用いた理論モデルを昨年提案したが、実験結果との定量的な比較まではできていなかった。本研究では、理論モデルの改善を行い、実験と理論の定量的な比較をできるようにし、Mobility edge位置の正しい評価にはキャリアフィリングの効果に注視する必要があることを明らかにした。また、正しい評価にはPLEスペクトルを用いる方法が最適であることも示唆された。 |
(英) |
InGaN is a mixed crystal of InN and GaN. Entire visible light range can be covered by changing their composition. Since the compositional fluctuation in the InGaN quantum well (QW) greatly affects the characteristics of optical devices, it is very important to understand the electronic structures of such fluctuated InGaN-QW systems for the improvement of their device characteristics. Mobility edge, which is the boundary energy between the localized and delocalized states, can be an index to evaluate the potential fluctuation of carriers. Several experiments, however, have been proposed to evaluate the mobility edge, and they give sometime different results each other. In this study, we experimentally and theoretically have studied on the evaluation method of mobility edge, and it was clarified that the estimation of mobility edge by PLE spectrum is the most suitable method. |
キーワード |
(和) |
InGaN量子井戸 / 組成揺らぎ / 光学特性 / Mobility edge / / / / |
(英) |
InGaN-QWs / Potential fluctuation / Optical characterization / Mobility edge / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 304, LQE2019-99, pp. 97-100, 2019年11月. |
資料番号 |
LQE2019-99 |
発行日 |
2019-11-14 (ED, CPM, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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