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講演抄録/キーワード
講演名 2019-11-14 15:45
遅延故障向け組込み自己診断のための圧縮シード生成法
中野雄太大竹哲史大分大)   エレソ技報アーカイブはこちら
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文献情報 信学技報, vol. 119, no. 283, DC2019-68, pp. 139-143, 2019年11月.
資料番号 DC2019-68 
発行日 2019-11-06 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF ICD IE IPSJ-SLDM IPSJ-EMB 
開催期間 2019-11-13 - 2019-11-15 
開催地(和) 愛媛県男女共同参画センター 
開催地(英) Ehime Prefecture Gender Equality Center 
テーマ(和) デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2019 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遅延故障向け組込み自己診断のための圧縮シード生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Compacted Seed Generation for Built-in Self-Diagnosis of Delay Faults 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中野 雄太 / Yuta Nakano / ナカノ ユウタ
第1著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake / オオタケ サトシ
第2著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
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講演者
発表日時 2019-11-14 15:45:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2019-44,IEICE-DC2019-68 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.282(VLD), no.283(DC) 
ページ範囲 pp.139-143 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-VLD-2019-11-06,IEICE-DC-2019-11-06 


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