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講演抄録/キーワード
講演名 2019-11-14 16:10
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
抄録 (和) 先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用いて , デバイスの故障の有無を診断するパワーオンセルフテスト (POST) が必要である . POST は厳しいテ
スト実行時間制約の下で定められた縮退故障検出率を得なければならない . マルチサイクルテストは LBIST を用いた
POST の実行時間の短縮化に有効な手法の 1 つである . しかしながら , マルチサイクルテストでは , キャプチャサイク
ルを増やすことに伴い , キャプチャパターンが新たな縮退故障を検出することが困難となる故障検出能力低下問題が
観測された . 故障検出能力低下問題の原因について , これまでの研究では論理・故障シミュレーションを行うことでマ
ルチサイクルテストにおいてサイクル数が増えると多くのフリップフロップ (FF) の値が固定値になることが分かっ
たが , それと故障検出との関係は未だに明らかにされていない . 本稿では , COP という確率ベーステスタビリティ評価
尺度と既存の故障検出確率評価法を利用して , マルチサイクルテストスキームにおけるキャプチャパターン系列の固
定値になる確率と故障の検出確率を評価することにより , 故障検出能力低下問題のメカニズムを解析する . 
(英) In order to ensure the functional safety of advanced autonomous driving systems, a power-on self-test
(POST) is required to diagnose the presence or absence of a device fault by using a logical built-in self-test (LBIST)
mechanism at system startup. We must obtain a fault detection rate defined under strict test execution time
constraints. Multi-cycle testing is one of the effective methods for shortening POST execution time using LBIST.
However, in the multi-cycle test, there was a fault detection degradation problem that made it difficult for the
capture pattern to detect a new stuck-at fault as the number of capture cycles increased. Regarding the cause of
the fault detection degradation problem, it has been found that many flip-flops (FF) values become fixed as the
number of cycles increases in multi-cycle tests by performing logic / fault simulations. The relationship between
such a problem and fault detection has not yet been clarified. In this paper, we analyze the mechanism of the
fault detection degradation problem by evaluating the transition probability and fault detection probability of the
capture pattern sequence in the multi-cycle test scheme using a probability-based testability evaluation scale called
COP.
キーワード (和) POST / LBIST / マルチサイクルテスト / 機能安全規格 / 縮退故障 / / /  
(英) POST / LBIST / Multi-cycle Testing / Function Safety / Stuck-at Fault / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 283, DC2019-69, pp. 145-150, 2019年11月.
資料番号 DC2019-69 
発行日 2019-11-06 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2019-45 DC2019-69

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF ICD IE IPSJ-SLDM IPSJ-EMB 
開催期間 2019-11-13 - 2019-11-15 
開催地(和) 愛媛県男女共同参画センター 
開催地(英) Ehime Prefecture Gender Equality Center 
テーマ(和) デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2019 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) POST / POST  
キーワード(2)(和/英) LBIST / LBIST  
キーワード(3)(和/英) マルチサイクルテスト / Multi-cycle Testing  
キーワード(4)(和/英) 機能安全規格 / Function Safety  
キーワード(5)(和/英) 縮退故障 / Stuck-at Fault  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中岡 典弘 / Norihiro Nakaoka / ナカオカ ノリヒロ
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 青野 智己 / Tomoki Aono / アオノ トモキ
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 工藤 壮司 / Sohshi Kudoh / クドウ ソウシ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第5著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第6著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata / イワタ ヒロユキ
第7著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 前田 洋一 / Yoichi Maeda / マエダ ヨウイチ
第8著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 松嶋 潤 / Jun Matsushima / マツシマ ジュン
第9著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas)
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講演者
発表日時 2019-11-14 16:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2019-45,IEICE-DC2019-69 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.282(VLD), no.283(DC) 
ページ範囲 pp.145-150 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2019-11-06,IEICE-DC-2019-11-06 


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