電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ/通ソ)
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2019-11-13 10:55
Improvement of variational autoencoder based test escape detection through image conversion
Romain ChicoixTelecom SudParis)・○Michihiro ShintaniNAIST)・Kouichi KumakiRenesas Electronics)・Michiko InoueNAIST)   エレソ技報アーカイブはこちら
抄録 (和) In testing of large scale integration (LSI) circuit, test escape detection using machine learning algorithms has been attracted attention. More particular, variational autoencoder (VAE) can detect faults that could not be detected by conventional test methods by learning features of fault-free LSIs as random variables. Meanwhile, computer vision is one of the most successful fields in machine learning applications. Inspired by the fact, in this paper, the LSI test data is converted into images, and they are used to improve the detection performance of the outlier detection using a VAE. Through experiments, the proposed approach achieves approximately 2? higher outlier detectability than conventional work. 
(英)
キーワード (和) Outlier detection / Test escape detection / Autoencoder / / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 282, VLD2019-31, pp. 13-18, 2019年11月.
資料番号 VLD2019-31 
発行日 2019-11-06 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF ICD IE IPSJ-SLDM IPSJ-EMB 
開催期間 2019-11-13 - 2019-11-15 
開催地(和) 愛媛県男女共同参画センター 
開催地(英) Ehime Prefecture Gender Equality Center 
テーマ(和) デザインガイア2019 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2019 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2019-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英)  
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Outlier detection /  
キーワード(2)(和/英) Test escape detection /  
キーワード(3)(和/英) Autoencoder /  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Romain Chicoix / /
第1著者 所属(和/英) Telecom SudParis (略称: Telecom SudParis)
(略称: )
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Michihiro Shintani / /
第2著者 所属(和/英) Nara Institute of Science and Technology (略称: 奈良先端大)
(略称: )
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Kouichi Kumaki / /
第3著者 所属(和/英) Renesas Electronics (略称: Renesas Electronics)
(略称: )
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Michiko Inoue / /
第4著者 所属(和/英) Nara Institute of Science and Technology (略称: 奈良先端大)
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2019-11-13 10:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2019-31,IEICE-DC2019-55 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.282(VLD), no.283(DC) 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2019-11-06,IEICE-DC-2019-11-06 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会