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講演抄録/キーワード
講演名 2019-11-08 10:25
高分子圧電体膜P(VDF-TrFE)をゲート絶縁膜に用いた一体型FETにおけるチャネル構造変化に伴う電気的特性の変化
松本周作岡山琢哉古川昭雄東京理科大CPM2019-50 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2019-50
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 119, no. 271, CPM2019-50, pp. 31-34, 2019年11月.
資料番号 CPM2019-50 
発行日 2019-10-31 (CPM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2019-50 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2019-50

研究会情報
研究会 CPM  
開催期間 2019-11-07 - 2019-11-08 
開催地(和) 福井大学 文京キャンパス 
開催地(英) Fukui univ. 
テーマ(和) 機能性材料(半導体、磁性体、誘電体、透明導電体・半導体、等)薄膜プロセス/材料/デバイス,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPM 
会議コード 2019-11-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高分子圧電体膜P(VDF-TrFE)をゲート絶縁膜に用いた一体型FETにおけるチャネル構造変化に伴う電気的特性の変化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Change in Electrical Characteristics with Change of Channel Structure in Integrated FET Using Piezoelectric Film P (VDF-TrFE) as Gate Insulator 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 周作 / Shusaku Matsumoto / マツモト シュウサク
第1著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: Tokyo Univ. of Science)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡山 琢哉 / Takuya Okayama / オカヤマ タクヤ
第2著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: Tokyo Univ. of Science)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 古川 昭雄 / Akio Furukawa / フルカワ アキオ
第3著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: Tokyo Univ. of Science)
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講演者 第1著者 
発表日時 2019-11-08 10:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 CPM 
資料番号 CPM2019-50 
巻番号(vol) vol.119 
号番号(no) no.271 
ページ範囲 pp.31-34 
ページ数
発行日 2019-10-31 (CPM) 


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