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講演抄録/キーワード
講演名 2019-10-24 16:00
n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大SS2019-19 DC2019-47
抄録 (和) VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテストが用いられている.特に自動車に搭載されている VLSIに関しては,組込み自己テストと呼ばれる技術を用いて,エンジンを起動したと同時に短時間でテストを行う必要がある.組込み自己テストでは一般的に,高い故障検出率を得ることが可能なス キャン設計が用いられている.一方で,非スキャン設計と比較して,面積オーバヘッドが増大するという問題点が挙げられる.本論文では,状態信号をメモリから与えることで,レジスタ転送レベル回路におけるコントローラの全ての状態遷移を 少なくとも 1回以上被覆し,非スキャン設計での故障検出率を向上させる手法を提案する. 
(英) As one of the means to avoid the fault due to the deteriorate over time of VLSI, online test is used to monitor the output of the circuit and the value of the internal signal line in normal operation. Especially for VLSI mounted in automobiles, it is necessary to test in a short time at the same time as starting the engine using a technology called built in self test. The built in self test generally uses a scan design that can obtain a higher fault coverage. On the other hand, the area overhead increases compared to the non scan design. In this paper, we propose a method to improve the fault coverage in non scan design by covering all the state transitions of the controller in the register transfer level circuit more than once by giving the status signal from the memory.
キーワード (和) オンラインテスト / 組込み自己テスト / 非スキャン設計 / レジスタ転送レベル / テスト容易化設計 / 線形帰還シフトレジスタ / 多重入力シフトレジスタ /  
(英) online test / build-in self-test / non-scan design / register transfer level / design for testability / linear feedback shift register / multiple input shift register /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 247, DC2019-47, pp. 37-42, 2019年10月.
資料番号 DC2019-47 
発行日 2019-10-17 (SS, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード SS2019-19 DC2019-47

研究会情報
研究会 DC SS  
開催期間 2019-10-24 - 2019-10-25 
開催地(和) 熊本大学 
開催地(英) Kumamoto Univ. 
テーマ(和) ソフトウェアシステムとディペンダブルコンピューティングおよび一般 
テーマ(英) Software Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-10-DC-SS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Non-scan Online Test Based on Covering n-Time State Transition 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) オンラインテスト / online test  
キーワード(2)(和/英) 組込み自己テスト / build-in self-test  
キーワード(3)(和/英) 非スキャン設計 / non-scan design  
キーワード(4)(和/英) レジスタ転送レベル / register transfer level  
キーワード(5)(和/英) テスト容易化設計 / design for testability  
キーワード(6)(和/英) 線形帰還シフトレジスタ / linear feedback shift register  
キーワード(7)(和/英) 多重入力シフトレジスタ / multiple input shift register  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 池ヶ谷 祐輝 / Yuki Ikegaya / イケガヤ ユウキ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 石山 悠太 / Yuta Ishiyama / イシヤマ ユウタ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第4著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyo University (略称: Kyoto Sangyo Univ.)
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講演者
発表日時 2019-10-24 16:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-SS2019-19,IEICE-DC2019-47 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.246(SS), no.247(DC) 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SS-2019-10-17,IEICE-DC-2019-10-17 


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