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講演抄録/キーワード
講演名 2019-08-08 10:00
極値理論を利用した最大SRAMデータ保持電圧の統計解析
水谷朋子竹内 潔更屋拓哉小林正治平本俊郎東大SDM2019-41 ICD2019-6
抄録 (和) 最大SRAMデータ保持電圧 (DRV) の推定に極値理論を応用した.65nm技術で作製したバルク6T-SRAM デバイスマトリックスアレイ (DMA) TEGを用いて,SRAMアレイブロックの最大DRVはGumbel分布に従うことを確認した.この手法を用いれば,全てのSRAMセルを測定しなくとも,いくつかのSRAMアレイブロックの最大値を測定するだけで大規模SRAMの最大DRVを推定することができる. 
(英) The extreme value theory was applied to the estimation of the maximum SRAM data retention voltage (DRV). It was found that, using a device matrix array (DMA) TEG with bulk 6T SRAM cells fabricated by the 65 nm technology, the block maximum DRV of SRAM arrays follows a Gumbel distribution. This method makes it possible to estimate the maximum DRV of large scale SRAMs simply by measuring several SRAM array blocks without measuring all the SRAM arrays.
キーワード (和) SRAM / データ保持電圧 / 極値理論 / / / / /  
(英) SRAM / data retention voltage / extreme value theory / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 161, SDM2019-41, pp. 27-30, 2019年8月.
資料番号 SDM2019-41 
発行日 2019-07-31 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2019-41 ICD2019-6

研究会情報
研究会 SDM ICD ITE-IST  
開催期間 2019-08-07 - 2019-08-09 
開催地(和) 北海道大学 情報科学院 3F A31 
開催地(英) Hokkaido Univ., Graduate School /Faculty of Information Science and 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2019-08-SDM-ICD-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 極値理論を利用した最大SRAMデータ保持電圧の統計解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Application of Extreme Value Theory to Statistical Analyses of Worst Case SRAM Data Retention Voltage 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) SRAM / SRAM  
キーワード(2)(和/英) データ保持電圧 / data retention voltage  
キーワード(3)(和/英) 極値理論 / extreme value theory  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 水谷 朋子 / Tomoko Mizutani / ミズタニ トモコ
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 潔 / Kiyoshi Takeuchi / タケウチ キヨシ
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 更屋 拓哉 / Takuya Saraya / サラヤ タクヤ
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 正治 / Masaharu Kobayashi / コバヤシ マサハル
第4著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 平本 俊郎 / Toshiro Hiramoto / ヒラモト トシロウ
第5著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo)
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講演者
発表日時 2019-08-08 10:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SDM 
資料番号 IEICE-SDM2019-41,IEICE-ICD2019-6 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.161(SDM), no.162(ICD) 
ページ範囲 pp.27-30 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-SDM-2019-07-31,IEICE-ICD-2019-07-31 


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