講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-08-07 16:30
[招待講演]28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術 ○下井貴裕・斉藤朋也・長瀬寛和・伊豆名雅之・神田明彦・伊藤 孝・河野隆司(ルネサス エレクトロニクス) SDM2019-39 ICD2019-4 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2019-39 ICD2019-4 |
抄録 |
(和) |
28nmスプリットゲートMONOS(SG-MONOS)型フラッシュメモリを用いた、ハードウェアセキュリティ向けの高信頼のPhysical Unclonable Functions (PUF)に関して報告する。SG-MONOSの初期Vtを利用したPUFを試作し、電圧、温度、経時変化に対しての安定性を確認した。さらに、新たに実装されたオフセット読み出し方式により、ECCを用いずにPUFのエラー率0%を達成した。 |
(英) |
Highly reliable Physical Unclonable Functions (PUF) based on 28nm Split-Gate MONOS (SG-MONOS) embedded flash memory is developed for hardware security applications. In this paper, we investigate wide range tolerance on applied voltage, temperature and aging influence for basic PUF characteristics utilizing SG-MONOS initial Vt variation. High-temperature stable PUF at the junction temperature (Tj) of 170oC can be confirmed by applying widely used automotive quality SG-MONOS flash memory. In addition, newly implemented offset read scheme achieves 0% error rate for PUF reliability without ECC. |
キーワード |
(和) |
Flash Memory / SG-MONOS / security / Physical Unclonable Functions / PUF / / / |
(英) |
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文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 161, SDM2019-39, pp. 15-19, 2019年8月. |
資料番号 |
SDM2019-39 |
発行日 |
2019-07-31 (SDM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
SDM2019-39 ICD2019-4 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2019-39 ICD2019-4 |
研究会情報 |
研究会 |
SDM ICD ITE-IST |
開催期間 |
2019-08-07 - 2019-08-09 |
開催地(和) |
北海道大学 情報科学院 3F A31 |
開催地(英) |
Hokkaido Univ., Graduate School /Faculty of Information Science and |
テーマ(和) |
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
テーマ(英) |
Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
SDM |
会議コード |
2019-08-SDM-ICD-IST |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術 |
サブタイトル(和) |
|
タイトル(英) |
High-temperature stable Physical Unclonable Functions with error-free readout scheme based on 28nm SGMONOS flash memory for security applications |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
Flash Memory / |
キーワード(2)(和/英) |
SG-MONOS / |
キーワード(3)(和/英) |
security / |
キーワード(4)(和/英) |
Physical Unclonable Functions / |
キーワード(5)(和/英) |
PUF / |
キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
下井 貴裕 / Takahiro Shimoi / シモイ タカヒロ |
第1著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
斉藤 朋也 / Tomoya Saito / サイトウ トモヤ |
第2著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
長瀬 寛和 / Hirokazu Nagase / ナガセ ヒロカズ |
第3著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
伊豆名 雅之 / Masayuki Izuna / イズナ マサユキ |
第4著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
神田 明彦 / Akihiko Kanda / カンダ アキヒコ |
第5著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
伊藤 孝 / Takashi Ito / イトウ タカシ |
第6著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
河野 隆司 / Takashi Kono / コウノ タカシ |
第7著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics) |
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 所属(和/英) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 所属(和/英) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 所属(和/英) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2019-08-07 16:30:00 |
発表時間 |
45分 |
申込先研究会 |
SDM |
資料番号 |
SDM2019-39, ICD2019-4 |
巻番号(vol) |
vol.119 |
号番号(no) |
no.161(SDM), no.162(ICD) |
ページ範囲 |
pp.15-19 |
ページ数 |
5 |
発行日 |
2019-07-31 (SDM, ICD) |