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講演抄録/キーワード
講演名 2019-07-24 09:55
電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討
鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏仙台高専)・藤本大介林 優一奈良先端大
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抄録 (和) 正規に実装された機器の回路が、特定の周波数の電磁波を照射することによりハードウェアトロジャンと同等の動作をし、機器内部に実装されたICの入出力信号が電磁波を介して漏えいする脅威が報告されている。従来、このような情報漏えいを引き起す電磁波の周波数は網羅的な周波数探索によって特定されていた。これに対し、本稿では、機器の物理的な構造に着目し、このような情報漏えいを引き起す電磁波の周波数を推定する手法を提案する。提案手法の有効性を示す実験では、攻撃対象機器に接続された線路や周辺機器の総外形長の計測によって機器内部への誘導効率の良い電磁波の周波数推定を行い、推定した周波数の電磁波を攻撃対象機器に照射した。実験を行った結果、推定した周波数だけでなく、当該周波数を整数倍した電磁波の照射によってICの入出力信号の電磁的情報漏えいが誘発されることを確認した。 
(英) The threats of electromagnetic (EM) information leakage from the input/output (I/O) signal of an IC mounted on a de-vice have been reported. The above attack is caused when attackers irradiate an EM wave of the specific frequency against properly implemented I/O circuits. Then, properly circuits behave like hardware Trojan. To be feasible the above-mentioned attack, conventional studies have searched for the broad frequency range to find frequencies availa-ble for the attack. However, this search required a lot of time. In this paper, we propose a method to estimate frequencies available for the attack by focusing on the physical structure of the device without searching for the broad frequency range. In an experiment, we measured the length of the connected line and the length of around the peripheral devices of a target device. Based on the above measurement, we extracted resonance frequencies corresponding to the total length of the target device as frequencies available for the attack. Moreover, we confirmed that EM information leakage of the I/O signal of the IC by irradiating not only the estimated frequency but also its harmonics.
キーワード (和) 電磁的情報漏えい / ハードウェアトロジャン / 意図的電磁妨害 / / / / /  
(英) Electromagnetic Information Leakage / Hardware Trojan / Intentional Electromagnetic Interference / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 143, HWS2019-35, pp. 235-238, 2019年7月.
資料番号 HWS2019-35 
発行日 2019-07-16 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 ISEC SITE ICSS EMM HWS BioX IPSJ-CSEC IPSJ-SPT 
開催期間 2019-07-23 - 2019-07-24 
開催地(和) 高知工科大学 
開催地(英) Kochi University of Technology 
テーマ(和) セキュリティ、一般 
テーマ(英) Security, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2019-07-ISEC-SITE-ICSS-EMM-HWS-BioX-CSEC-SPT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fundamental Study on an Estimation Method of Irradiate Frequencies to Forcibly Cause Electromagnetic Information Leakage 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電磁的情報漏えい / Electromagnetic Information Leakage  
キーワード(2)(和/英) ハードウェアトロジャン / Hardware Trojan  
キーワード(3)(和/英) 意図的電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji / カジ シュウゴ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa / キヌガワ マサヒロ
第2著者 所属(和/英) 仙台高等専門学校 (略称: 仙台高専)
National Institute of Technology, Sendai College (略称: NIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者
発表日時 2019-07-24 09:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 HWS 
資料番号 IEICE-ISEC2019-40,IEICE-SITE2019-34,IEICE-BioX2019-32,IEICE-HWS2019-35,IEICE-ICSS2019-38,IEICE-EMM2019-43 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.140(ISEC), no.141(SITE), no.142(BioX), no.143(HWS), no.144(ICSS), no.145(EMM) 
ページ範囲 pp.235-238 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-ISEC-2019-07-16,IEICE-SITE-2019-07-16,IEICE-BioX-2019-07-16,IEICE-HWS-2019-07-16,IEICE-ICSS-2019-07-16,IEICE-EMM-2019-07-16 


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