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講演抄録/キーワード
講演名 2019-07-19 11:25
[依頼講演]光変調散乱技術を用いた高周波電界センサの開発とEMCスキャナへの応用
黒澤孝裕秋田県産技センター)・駒木根隆士秋田高専)   エレソ技報アーカイブはこちら
抄録 (和) 高周波電界中に設置した半導体からの散乱波を光変調して遠方に伝播させ,これを受信して散乱体位置の電界強度を測定する,光変調散乱技術を用いた高周波電界センサを開発した.アンドープゲルマニウム基板を散乱体に用い,1-18 GHzの周波数範囲で電界計測を可能とした.また,開放終端マイクロストリップラインの近傍界計測では,2 GHzにおいて定在波の振幅および位相分布を計測できた.このセンサをEMCノイズスキャナに応用し,電子機器から生じる放射電磁雑音を機器近傍から遠方まで評価可能とした.市販ギガビットイーサネットハブ回路基板の近傍電界分布を計測し,周波数により分布が異なることを明らかとした. 
(英) Electric field measurement sensor based on the modulated scattering technique with optically modulated scatterer had developed. The scattered wave by the semiconductor scatterer was modulated with the light which has higher energy than the band-gap energy of the semiconductor. By using germanium disk as the scatterer, microwave field could be detected in the frequency range of 1-18 GHz. On near field measurements, distribution of the in-plane field component on the microstrip line and the patch antenna could be measured. This sensor was adopted to the EMC scanner, which could measure the microwave electric field distribution on electric equipment. Measurement of the field distribution on the giga-bit ethernet switching hub was demonstrated.
キーワード (和) 電界計測 / 変調散乱 / 半導体散乱体 / 光変調 / 電磁環境両立性 / / /  
(英) electric field measurement / modulated scattering / semiconductor scatterer / microwave field / EMC scanner / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 EMCJ EMD WPT PEM  
開催期間 2019-07-19 - 2019-07-19 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 実装,EMC一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 PEM 
会議コード 2019-07-EMCJ-EMD-WPT-PEM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光変調散乱技術を用いた高周波電界センサの開発とEMCスキャナへの応用 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Development of High Frequency Electric Field Sensor with Optically Modulated Scattering Technique and its Application to EMC Noise Scanner 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電界計測 / electric field measurement  
キーワード(2)(和/英) 変調散乱 / modulated scattering  
キーワード(3)(和/英) 半導体散乱体 / semiconductor scatterer  
キーワード(4)(和/英) 光変調 / microwave field  
キーワード(5)(和/英) 電磁環境両立性 / EMC scanner  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒澤 孝裕 / Takahiro Kurosawa / クロサワ タカヒロ
第1著者 所属(和/英) 秋田県産業技術センター (略称: 秋田県産技センター)
AKITA Industrial Technology Center (略称: AITC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 駒木根 隆士 / Takashi Komakine / コマキネ タカシ
第2著者 所属(和/英) 秋田工業高等専門学校 (略称: 秋田高専)
National Institute of Technology, Akita College (略称: Akita NCT)
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講演者
発表日時 2019-07-19 11:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 PEM 
資料番号  
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数 IEICE-4 
発行日  


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