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講演抄録/キーワード
講演名 2019-07-18 13:35
意図的な電磁妨害がIC通信に与える影響に関する基礎検討
西山 輝岡本拓実藤本大介林 優一奈良先端大
技報オンラインサービス実施中
抄録 (和) 数Vの意図的な電磁妨害により機器を破壊せず誤動作を誘発するLow-Power Intentional Electromagnetic Interference (IEMI) が報告されている。これまでLow-Power IEMIによりIC内部で実行される処理に一時的な誤りを発生させ、秘密鍵を奪取する脅威が報告されている。これに対し本稿では、Low-Power IEMIにより、IC間で伝送されるデータに誤りを発生させ、伝送データに基づいて発行される命令自体が変化する可能性について基礎的な検討を行った。具体的には、伝送データの誤りが観測できる実験環境を構築し、伝導妨害波を機器に接続された電源線経由で周波数・振幅を変化させて印加することにより、IC通信で伝送されるデータへの影響を評価した。実験の結果、印加する妨害波の周波数が低いほど、また振幅が大きいほど伝送データに誤りが生じる確率が高くなる傾向が観測された。さらに、誤りの発生したデータを解析した結果、伝送データのハミングウェイトが大きいほどデータ誤りが発生しやすいことが明らかになった。 
(英) Low-Power Intentional Electromagnetic Interference (IEMI) has been reported, which causes malfunction without damaging the equipment by intentional electromagnetic interference with several volts. Until now, there have been reports of threats that cause temporary faults in processing inside the IC by Low-Power IEMI and extract secret keys. On the other hand, in this paper, we considered the possibility that faults occur in the data transmitted between ICs caused by Low-Power IEMI. If faults occur in data transmitted between ICs, malicious instructions different from regular instructions may be executed, which may be a new threat. Specifically, we constructed an experimental environment where faults in transmitted data can be observed. Then, by changing the frequency and amplitude, the conducted disturbance wave was applied to the device via the power supply line, and the influence on the data transmitted in the IC communication was evaluated. As a result of the experiment, when the frequency is low, and the amplitude is large in disturbance wave, it is observed that the probability of occurrence of faults in transmission data tends to be high. Moreover, it was confirmed that the larger the HW of the data to be transmitted, the more likely data faults occur.
キーワード (和) 意図的な電磁妨害 / 故障解析 / 電磁情報セキュリティ / / / / /  
(英) Intentional electromagnetic interference / Fault analysis / EM information security / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 124, EMCJ2019-23, pp. 29-33, 2019年7月.
資料番号 EMCJ2019-23 
発行日 2019-07-11 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2019-07-18 - 2019-07-18 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 若手研究者発表会 
テーマ(英) Young Scientist Meeting 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2019-07-EMCJ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 意図的な電磁妨害がIC通信に与える影響に関する基礎検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fundamental study on influence of intentional electromagnetic interference on IC communication 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 意図的な電磁妨害 / Intentional electromagnetic interference  
キーワード(2)(和/英) 故障解析 / Fault analysis  
キーワード(3)(和/英) 電磁情報セキュリティ / EM information security  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 西山 輝 / Hikaru Nishiyama / ニシヤマ ヒカル
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡本 拓実 / Takumi Okamoto / オカモト タクミ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者
発表日時 2019-07-18 13:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 IEICE-EMCJ2019-23 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.124 
ページ範囲 pp.29-33 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-EMCJ-2019-07-11 


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