講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-06-21 11:40
熱処理によるAl/Ge(111)上の極薄Ge層形成 ○小林征登・大田晃生・黒澤昌志・洗平昌晃・田岡紀之・池田弥央・牧原克典・宮﨑誠一(名大) SDM2019-27 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2019-27 |
抄録 |
(和) |
金属薄膜へのゲルマニウム(Ge)の固溶・偏析を利用してGeの二次元結晶を作成することを目的として、Geと共晶反応を示すAlを化学溶液洗浄したGe(111)上に真空蒸着し、熱処理前後で化学構造や結晶状態を調べた。Al蒸着時の堆積速度や膜厚を制御することによりGe(111)上にAlをヘテロエピタキシャル成長できることが分かった。さらに、真空中熱処理による試料表面の平坦化とGe析出について系統的に調べ、厚さ1nm以下の極薄Ge層をAl薄膜上に形成できることを明らかにした。 |
(英) |
We have studied the chemical and crystallographic structures of vacuum evaporated Al/Ge(111) before and after the thermal annealing to form the germenium (Ge) two dimensional (2D) crystals on the surface by the control of Ge segregation from Al. Hetero-epitaxial Al was found to be grown on Ge(111) by control the Al thickness and deposition rate during the vacuum evaporation. Surface flattening and Ge segregation on Al/Ge(111) structure by vacuume annealing were systematically investigated, and ultrathin segragated-Ge crystals with the thickness below 1 nm can be formed on the hetero-epitaxial Al surface. |
キーワード |
(和) |
ゲルマニウム (Ge) / 結晶成長 / 薄膜 / 化学構造 / / / / |
(英) |
Germanium (Ge) / Crystal Growth / Thin Film / Chemical Structure / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 96, SDM2019-27, pp. 11-15, 2019年6月. |
資料番号 |
SDM2019-27 |
発行日 |
2019-06-14 (SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
SDM2019-27 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2019-27 |