講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-05-16 13:25
Si上Ge層を用いた近赤外pin受光器の暗電流特性 ○橘 茉優・園井柊平・石川靖彦(豊橋技科大) ED2019-11 CPM2019-2 SDM2019-9 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2019-11 CPM2019-2 SDM2019-9 |
抄録 |
(和) |
超高真空化学気相堆積法によりSi上へエピタキシャル成長したGe層を用い、シリコンフォトニクス用近赤外pin受光器を作製した。受光器の暗電流の低減には、Ge層中の貫通転位密度低減だけでなく、Ge/Si界面の平坦性が重要であることを示唆する結果が得られた。 |
(英) |
Near-infrared pin photodiodes for silicon photonics are fabricated using Ge layers epitaxially grown on Si by ultrahigh-vacuum chemical vapor deposition. For the reduction of dark leakage current in Ge pin photodiodes, formation of flat Ge/Si interface is important together with the reduction of threading dislocation density in the Ge layers. |
キーワード |
(和) |
シリコンフォトニクス / ゲルマニウム / エピタキシャル成長 / 近赤外受光器 / / / / |
(英) |
Si photonics / Germanium / Epitaxial Growth / Near-infrared Photodetectors / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 36, SDM2019-9, pp. 5-8, 2019年5月. |
資料番号 |
SDM2019-9 |
発行日 |
2019-05-09 (ED, CPM, SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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