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講演抄録/キーワード
講演名 2019-04-12 15:05
180nm CMOSプロセスを用いたPhysically Unclonable Functionsの実装と評価
汐﨑 充久保田貴也白畑正芳立命館大)・堀 洋平片下敏宏産総研)・藤野 毅立命館大
抄録 (和) 現在,Physically Unclonable Function (PUF)の国際標準化が進められており,これまで明確に定められていなかったPUFの評価項目や評価手順に関する議論が行われている.このPUFの評価項目や評価手順を議論するための評価プラットフォームとしてArbiter-based PUF,Ring-Oscillator PUF,SRAM PUFといった既存PUFに加えて,本研究室で提案してきたMDR-ROM PUFを搭載したLSIチップを180nmプロセスで試作した.本発表では,各PUFを電源電圧±10%,動作温度-40~105℃で性能評価を行った実験結果を報告する. 
(英) Evaluation items and evaluation schemes of Physically Unclonable Function (PUF) are discussed in international standardization activities. We designed a PUF Characterization Vehicle (PCV) test chip with 180nm CMOS process to enable benchmarking of PUFs. And, we evaluated six PUFs which are an arbiter PUF, an XOR arbiter PUF, a ring-oscillator PUF, an SRAM PUF and an MDR-ROM PUF, in the PCV test chip. This paper presents comparison results under 35 different environmental conditions (voltage range: 1.6~2.0V, temperature range: -40~105℃).
キーワード (和) Physically Unclonable Function (PUF) / Arbiter-based PUF / Ring-Oscillator PUF / SRAM PUF / MDR-ROM / / /  
(英) Physically Unclonable Function (PUF) / Arbiter-based PUF / Ring-Oscillator PUF / SRAM PUF / MDR-ROM / / /  
文献情報 信学技報, vol. 119, no. 2, HWS2019-4, pp. 19-24, 2019年4月.
資料番号 HWS2019-4 
発行日 2019-04-05 (HWS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 HWS  
開催期間 2019-04-12 - 2019-04-12 
開催地(和) 東北大学 
開催地(英) Tohoku University 
テーマ(和) ハードウェアセキュリティ, 一般 
テーマ(英) Hardware Security, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2019-04-HWS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 180nm CMOSプロセスを用いたPhysically Unclonable Functionsの実装と評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Implementation and Experimental Evaluation of Physically Unclonable Functions in 180nm CMOS Process 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Physically Unclonable Function (PUF) / Physically Unclonable Function (PUF)  
キーワード(2)(和/英) Arbiter-based PUF / Arbiter-based PUF  
キーワード(3)(和/英) Ring-Oscillator PUF / Ring-Oscillator PUF  
キーワード(4)(和/英) SRAM PUF / SRAM PUF  
キーワード(5)(和/英) MDR-ROM / MDR-ROM  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 汐﨑 充 / Mitsuru Shiozaki / シオザキ ミツル
第1著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 貴也 / Takaya Kubota / クボタ タカヤ
第2著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 白畑 正芳 / Masayoshi Shirahata / シラハタ マサヨシ
第3著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 堀 洋平 / Yohei Hori / ホリ ヨウヘイ
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 片下 敏宏 / Toshihiro Katashita / カタシタ トシヒロ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤野 毅 / Takeshi Fujino / フジノ タケシ
第6著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
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講演者
発表日時 2019-04-12 15:05:00 
発表時間 25 
申込先研究会 HWS 
資料番号 IEICE-HWS2019-4 
巻番号(vol) IEICE-119 
号番号(no) no.2 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-HWS-2019-04-05 


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