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講演抄録/キーワード
講演名 2019-03-18 09:00
最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大
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抄録 (和) 従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴い,従来使用されてきた故障モデルを対象としたテストでは検出困難な欠陥が増加している.このような欠陥の一つは,抵抗性オープン故障モデルでモデル化できる.抵抗性オープン故障は,回路内の配線の導電率の低下を表現しており,タイミング故障を引き起こす微小遅延故障である.抵抗性オープン故障の付加的な遅延サイズは,その隣接信号線の影響によって決定される.そのため,抵抗性オープン故障のテスト生成では,隣接信号線と故障伝搬経路の考慮が重要である.本論文では,MAX-SATを用いた隣接信号線の逆相遷移数と故障伝搬のための活性化信号線数を考慮した抵抗性オープン故障のテスト生成法を提案する.さらに生成したテストパターンの特性を評価する. 
(英) In VLSI testing, stuck-at fault model and transition fault model have been widely used. However, with advance of semiconductor technologies, it is increasing in defects whose detection is difficult in testing using conventional fault models. One of such defects is modeled by resistive open fault model. Resistive open faults represent degradation in conductivity within circuit's interconnects and result in small delay faults that causing timing failures. The size of an additional delay at a resistive open fault is determined by the effect of the adjacent lines. Therefore, it is important to consider adjacent lines and fault propagation paths in test generation for resistive open faults. In this paper, we propose a test generation method for resistive open faults which considers the number of reversed phase transitions on adjacent lines and the number of sensitized lines for fault propagation using MAX-SAT. Moreover, we evaluate the properties of generated test patterns.
キーワード (和) 抵抗性オープン故障 / 最大充足化問題 / テスト生成 / 隣接信号線 / / / /  
(英) resistive open faults / MAX-SAT / test generation / adjacent lines / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 515, DC2018-99, pp. 315-320, 2019年3月.
資料番号 DC2018-99 
発行日 2019-03-10 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 CPSY DC IPSJ-SLDM IPSJ-EMB IPSJ-ARC  
開催期間 2019-03-17 - 2019-03-18 
開催地(和) 西之表市民会館(種子島) 
開催地(英) Nishinoomote City Hall (Tanega-shima) 
テーマ(和) 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2019 
テーマ(英) ETNET2019 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-03-CPSY-DC-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Test Generation Method for Resistive Open Faults Using MAX-SAT Problem 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 抵抗性オープン故障 / resistive open faults  
キーワード(2)(和/英) 最大充足化問題 / MAX-SAT  
キーワード(3)(和/英) テスト生成 / test generation  
キーワード(4)(和/英) 隣接信号線 / adjacent lines  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第3著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyo University (略称: Kyoto Sangyo Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第4著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi /
第5著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume /
第6著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
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講演者
発表日時 2019-03-18 09:00:00 
発表時間 20 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-CPSY2018-117,IEICE-DC2018-99 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.514(CPSY), no.515(DC) 
ページ範囲 pp.315-320 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CPSY-2019-03-10,IEICE-DC-2019-03-10 


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