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講演抄録/キーワード
講演名 2019-03-13 15:15
[ポスター講演]オプティカルフローを用いた顔認証なりすまし防止に関する研究
藤巻匠平姜 玄浩東京高専EMM2018-102
抄録 (和) 本研究では顔認証時に発生するなりすまし攻撃に対して、オプティカルフローという物体の動き情報を利用し、機械学習によって攻撃を防ぐためのアプローチを紹介する。今までの研究では、ピクセル情報のみを用いて分類を行うことが多かったが、最近では時間情報も含めた特徴量を用いた分類手法が多くみられるようになった。そして今回は別の時間情報のオプションとしてオプティカルフローを用いた。このことによって従来のLBP を単独で特徴とするよりも、オプティカルフローと掛け合わせて特徴量とすることによってHTER (Half Total Error Rate) を低下させることができた。 
(英) In this research, we introduce the approach to prevent attack by machine learning, using the motion information of the object called optical flow, against the spoofing attack occurring at face authentication. In previous studies, classification was often performed using only pixel information, but recently, classification methods using feature quantities including time information have come to be seen more frequently. And this time we used optical flow as an alternative time information option. By doing this, HTER (Half Total Error Rate) can be reduced by using the feature amount by multiplying with the optical flow rather than using the conventional LBP alone.
キーワード (和) オプティカルフロー / LBP / なりすまし / / / / /  
(英) Optical Flow / LBP / spoofing / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 494, EMM2018-102, pp. 57-61, 2019年3月.
資料番号 EMM2018-102 
発行日 2019-03-06 (EMM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMM2018-102

研究会情報
研究会 EMM  
開催期間 2019-03-13 - 2019-03-14 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) TBD 
テーマ(和) 画質・音質評価,知覚・認知メトリクス,人間視聴覚システム,一般 
テーマ(英) Image and Sound Quality, Metrics for Perception and Recognition, Human Auditory and Visual System, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMM 
会議コード 2019-03-EMM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) オプティカルフローを用いた顔認証なりすまし防止に関する研究 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Face Anti-spoofing Using Optical Flow 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) オプティカルフロー / Optical Flow  
キーワード(2)(和/英) LBP / LBP  
キーワード(3)(和/英) なりすまし / spoofing  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤巻 匠平 / Fujimkai Shohei / フジマキ ショウヘイ
第1著者 所属(和/英) 東京工業高等専門学校 (略称: 東京高専)
National Institute of Technology ,Tokyo College (略称: NITTC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 姜 玄浩 / Hyunho Kang / ヒョンホ カン
第2著者 所属(和/英) 東京工業高等専門学校 (略称: 東京高専)
National Institute of Technology ,Tokyo College (略称: NITTC)
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講演者
発表日時 2019-03-13 15:15:00 
発表時間 60 
申込先研究会 EMM 
資料番号 IEICE-EMM2018-102 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.494 
ページ範囲 pp.57-61 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-EMM-2019-03-06 


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