講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-03-02 13:30
ToF距離画像カメラの計測セキュリティ評価のための一指標 ○櫻澤 聡・藤本大介・松本 勉(横浜国大) VLD2018-141 HWS2018-104 |
抄録 |
(和) |
我々はToF距離画像カメラを対象として,測定パルスなりすましに関して計測セキュリティを評価するシステムを構築する研究を進めている.本稿では,計測セキュリティ評価システムの攻撃能力評価として,Common Criteriaにて定められた脆弱性評価手法と同様の評価を導入することで,計測セキュリティを定量的に評価する指標について検討する. |
(英) |
We are constructing a system for evaluating instrumentation security of ToF Depth-Image Cameras based on pulse-light spoofing. In this paper, we introduce the attack potential rating in vulnerability evaluation of Common Criteria to the system as an instrumentation security metric. |
キーワード |
(和) |
計測セキュリティ / ToF / 距離画像カメラ / セキュリティ評価 / / / / |
(英) |
Instrumentation Security / Time of Flight / Depth-Image Camera / Security Evaluation / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 118, no. 458, HWS2018-104, pp. 283-288, 2019年2月. |
資料番号 |
HWS2018-104 |
発行日 |
2019-02-20 (VLD, HWS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
VLD2018-141 HWS2018-104 |
研究会情報 |
研究会 |
HWS VLD |
開催期間 |
2019-02-27 - 2019-03-02 |
開催地(和) |
沖縄県青年会館 |
開催地(英) |
Okinawa Ken Seinen Kaikan |
テーマ(和) |
システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
テーマ(英) |
Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
HWS |
会議コード |
2019-02-HWS-VLD |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
ToF距離画像カメラの計測セキュリティ評価のための一指標 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
An Instrumentation Security Metric for ToF Depth-Image Cameras |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
計測セキュリティ / Instrumentation Security |
キーワード(2)(和/英) |
ToF / Time of Flight |
キーワード(3)(和/英) |
距離画像カメラ / Depth-Image Camera |
キーワード(4)(和/英) |
セキュリティ評価 / Security Evaluation |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
櫻澤 聡 / Satoru Sakurazawa / サクラザワ サトル |
第1著者 所属(和/英) |
横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ |
第2著者 所属(和/英) |
横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム |
第3著者 所属(和/英) |
横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2019-03-02 13:30:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
HWS |
資料番号 |
VLD2018-141, HWS2018-104 |
巻番号(vol) |
vol.118 |
号番号(no) |
no.457(VLD), no.458(HWS) |
ページ範囲 |
pp.283-288 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2019-02-20 (VLD, HWS) |
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