お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2019-03-02 13:30
ToF距離画像カメラの計測セキュリティ評価のための一指標
櫻澤 聡藤本大介松本 勉横浜国大VLD2018-141 HWS2018-104
抄録 (和) 我々はToF距離画像カメラを対象として,測定パルスなりすましに関して計測セキュリティを評価するシステムを構築する研究を進めている.本稿では,計測セキュリティ評価システムの攻撃能力評価として,Common Criteriaにて定められた脆弱性評価手法と同様の評価を導入することで,計測セキュリティを定量的に評価する指標について検討する. 
(英) We are constructing a system for evaluating instrumentation security of ToF Depth-Image Cameras based on pulse-light spoofing. In this paper, we introduce the attack potential rating in vulnerability evaluation of Common Criteria to the system as an instrumentation security metric.
キーワード (和) 計測セキュリティ / ToF / 距離画像カメラ / セキュリティ評価 / / / /  
(英) Instrumentation Security / Time of Flight / Depth-Image Camera / Security Evaluation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 458, HWS2018-104, pp. 283-288, 2019年2月.
資料番号 HWS2018-104 
発行日 2019-02-20 (VLD, HWS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2018-141 HWS2018-104

研究会情報
研究会 HWS VLD  
開催期間 2019-02-27 - 2019-03-02 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Ken Seinen Kaikan 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 
テーマ(英) Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2019-02-HWS-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ToF距離画像カメラの計測セキュリティ評価のための一指標 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An Instrumentation Security Metric for ToF Depth-Image Cameras 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 計測セキュリティ / Instrumentation Security  
キーワード(2)(和/英) ToF / Time of Flight  
キーワード(3)(和/英) 距離画像カメラ / Depth-Image Camera  
キーワード(4)(和/英) セキュリティ評価 / Security Evaluation  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 櫻澤 聡 / Satoru Sakurazawa / サクラザワ サトル
第1著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ
第2著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム
第3著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2019-03-02 13:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 HWS 
資料番号 VLD2018-141, HWS2018-104 
巻番号(vol) vol.118 
号番号(no) no.457(VLD), no.458(HWS) 
ページ範囲 pp.283-288 
ページ数
発行日 2019-02-20 (VLD, HWS) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会