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講演抄録/キーワード
講演名 2019-03-01 14:00
電磁コンタクタの連続開閉試験による電気接点の接触信頼性の評価
五十嵐正成大垣飛鳥澤 孝一郎吉田 清日本工大EMD2018-67 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2018-67
抄録 (和) 本研究では、接点を微小負荷条件(DC5V3mA)の回路で500万回の開閉実験を行い、実験中の接触抵抗の変化を測定した。接点には、主回路に用いられる単一接点と補助接点として用いられる双子接点を2個ずつ計4個同時に実験した。また、実験後の接点表面の観察を行った。表面観察はマイクロスコープと3Dレーザ顕微鏡を使って観察した。その後、実験の再現性を確認するために100万回の開閉実験を行った。その結果、500万回の開閉実験では接触抵抗の変化は小さかった。どちらの実験も接触抵抗は高くても数十mΩ程度で、低く安定していた。100万回の実験では、表面を磨く処理をせず、実験を行った。その結果、接触抵抗値は表面を磨いた500万回の実験の方が、どちらの接点も接触抵抗が低く安定している結果となった。このことから、アークの発生しない微小負荷では、初期の接点表面状態の影響が大きいことが予想された。また、3Dレーザ顕微鏡の表面観察から、接点表面は陽極・陰極ともに開閉による衝突で消耗していることが確認された。 
(英) In this research, we conducted 5 million times of opening and closing experiments with contacts under minute load conditions (DC 5 V, 3 mA). Then, change in contact resistance was measured. Two pairs of single contacts used for the main circuit and two pairs of twin contacts used as auxiliary contacts were attached to the electromagnetic contactor for the test contacts. Microscope and 3D laser microscope were used for observation of the contact surface after the experiment. Furthermore, 1 million times of opening and closing experiments were conducted to confirm the reproducibility of the experiment. As a result, the change in contact resistance was small in the opening and closing experiment of 5 million times. In both experiments, the contact resistance was as low as several tens mΩ even though it was high, and it was stable low. In one million experiments, experiments were conducted without polishing the surface. As a result, the contact resistance was lower and the contact resistance was lower in the 5 million times experiment with which the surface was polished. It was expected that the effect of initial contact surface condition will be large for micro loads without arc generation. Also, from the observation of the surface of the 3D laser microscope, it was confirmed that the contact surface was consumed due to collision by opening and closing both electrode.
キーワード (和) 電気接点 / 電磁コンタクタ / 単子接点 / 双子接点 / 接触抵抗 / 補助接点 / 接触信頼性 /  
(英) Electrical contact / Electromagnetic contactor / Single contact / Twin contact / Contact resistance / Auxiliary contact / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 462, EMD2018-67, pp. 41-46, 2019年3月.
資料番号 EMD2018-67 
発行日 2019-02-22 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2018-67 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2018-67

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2019-03-01 - 2019-03-01 
開催地(和) 電通大附属図書館306室 
開催地(英)  
テーマ(和) ショートノート(卒論・修論特集) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2019-03-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電磁コンタクタの連続開閉試験による電気接点の接触信頼性の評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Contact reliability of electrical contacts by continuous make/break test of electromagnetic contactor 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / Electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 電磁コンタクタ / Electromagnetic contactor  
キーワード(3)(和/英) 単子接点 / Single contact  
キーワード(4)(和/英) 双子接点 / Twin contact  
キーワード(5)(和/英) 接触抵抗 / Contact resistance  
キーワード(6)(和/英) 補助接点 / Auxiliary contact  
キーワード(7)(和/英) 接触信頼性 /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 五十嵐 正成 / Ikarashi Masanari / イカラシ マサナリ
第1著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大垣 飛鳥 / Ogaki Asuka / オオガキ アスカ
第2著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第3著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 清 / Kiyoshi Yoshida / ヨシダ キヨシ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2019-03-01 14:00:00 
発表時間 15 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2018-67 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.462 
ページ範囲 pp.41-46 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2019-02-22 


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