講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-02-28 15:20
自動微分を用いたSPICEモデルパラメータ抽出環境の構築 ○上田 葵(奈良高専)・新谷道広(奈良先端大)・岩田大志・山口賢一(奈良高専)・井上美智子(奈良先端大) VLD2018-117 HWS2018-80 |
抄録 |
(和) |
MOSFETコンパクトモデルのパラメータ抽出は,高精度な回路シミュレーションを行うために重要な工程の1つであるが,コンパクトモデルの複雑化とモデルパラメータ数の増加に伴い,抽出に要する計算時間が無視できなくなってきている.本稿では,自動微分に基づくパラメータ自動抽出環境を提案する.自動微分は,広く使用されている数値微分と比べて最適なパラメータを高速に求めることができる反面,その準備として,モデル式を計算グラフで表現する必要がある.本環境では,与えられたモデル式に対する計算グラフの構築および勾配法によるパラメータ最適化を自動で行う.MOSデバイス物理に基づいて特性値を計算する表面電位モデルに適用したところ,数値微分と同等の抽出精度を保ちつつ,計算速度を7.94倍高速化できた. |
(英) |
Accuracy of circuit simulation highly relys on two techniques: compact modeling and parameter extraction. As increasing the complexity of the compact model and the number of model parameters, the parameter extraction is becoming a time-consuming step. In this paper, we propose an automatic environment of automatic-differentiation-based parameter extraction. While the automatic differentiation enables us to accerelate the parameter extraction, the model equation needs to be represented by a calculation graph. The proposed environment automatically generates the calculation graph of the given compact model, and conducts the parameter extraction based on the gradient method. Through experiments using a surface potential model which represents physical behavior of the MOSFET, we demonstrate that our environment achieved 7.94x speedup with preserving the fitting error compared to the numerical-differentiation-based parameter extraction. |
キーワード |
(和) |
パラメータ抽出 / コンパクトモデル / 電流特性 / 勾配法 / 自動微分 / / / |
(英) |
Parameter extraction / Compact model / Current characteristics / Gradient method / Automatic differentiation / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 118, no. 457, VLD2018-117, pp. 145-150, 2019年2月. |
資料番号 |
VLD2018-117 |
発行日 |
2019-02-20 (VLD, HWS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
VLD2018-117 HWS2018-80 |
研究会情報 |
研究会 |
HWS VLD |
開催期間 |
2019-02-27 - 2019-03-02 |
開催地(和) |
沖縄県青年会館 |
開催地(英) |
Okinawa Ken Seinen Kaikan |
テーマ(和) |
システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
テーマ(英) |
Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
VLD |
会議コード |
2019-02-HWS-VLD |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
自動微分を用いたSPICEモデルパラメータ抽出環境の構築 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
A SPICE Model Parameter Extraction Environment Using Automatic Differentiation |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
パラメータ抽出 / Parameter extraction |
キーワード(2)(和/英) |
コンパクトモデル / Compact model |
キーワード(3)(和/英) |
電流特性 / Current characteristics |
キーワード(4)(和/英) |
勾配法 / Gradient method |
キーワード(5)(和/英) |
自動微分 / Automatic differentiation |
キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
上田 葵 / Aoi Ueda / ウエダ アオイ |
第1著者 所属(和/英) |
奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
National Institute of Technology , Nara College (略称: NNCT) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
新谷 道広 / Michihiro Shintani / シンタニ ミチヒロ |
第2著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
岩田 大志 / Hiroshi Iwata / イワタ ヒロシ |
第3著者 所属(和/英) |
奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
National Institute of Technology , Nara College (略称: NNCT) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山口 賢一 / Ken'ichi Yamaguchi / ヤマグチ ケンイチ |
第4著者 所属(和/英) |
奈良工業高等専門学校 (略称: 奈良高専)
National Institute of Technology , Nara College (略称: NNCT) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ |
第5著者 所属(和/英) |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2019-02-28 15:20:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
VLD |
資料番号 |
VLD2018-117, HWS2018-80 |
巻番号(vol) |
vol.118 |
号番号(no) |
no.457(VLD), no.458(HWS) |
ページ範囲 |
pp.145-150 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2019-02-20 (VLD, HWS) |
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