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講演抄録/キーワード
講演名 2019-02-28 17:10
CMOSイメージセンサの画素ばらつきを活用したPUF(CIS-PUF)の誤り訂正手法の検討
一色良太白畑正芳立命館大)・大倉俊介ブリルニクスジャパン)・汐崎 充久保田貴也立命館大)・石川賢一郎高柳 功ブリルニクスジャパン)・藤野 毅立命館大VLD2018-121 HWS2018-84
抄録 (和) IoT時代には情報の入り口であるセンサのセキュリティを高めることが必要である.我々の研究グループではCMOSイメージセンサ(CIS)をPUF(Physically Unclonable Function)に応用したCIS-PUFを提案してきた.本研究では,このCIS-PUFに実装する誤り訂正回路について議論する.一般に誤り訂正回路にはFuzzy Extractor(FE)が用いられ,この誤り訂正能力を高めるために,PUFの個別のビットに付与された信頼度情報を用いる軟判定FEが提案されている.これに対して,我々は以前CIS-PUFの電圧出力を利用した独自の軟判定FEを提案した.この手法は従来の軟判定FEで必要とされていたPUFレスポンスの複数測定が必要なく,誤り訂正符号の冗長度の増加やヘルパーデータサイズが増加しないという利点を有する. 今回我々は,信頼度生成に必要な処理,誤り訂正能力などを従来の軟判定FEと比較した.また,CISチップ上への実装を想定した追加回路の面積見積もりを行い,CIS-PUFおよび軟判定FEを搭載してもコストの大幅な増加とならないかを確認した.その結果,本来のCISチップの面積の1%以下に追加回路の面積が収まり,チップ面積ペナルティによるコスト増加は小さいことを確認した. 
(英) (Available after conference date)
キーワード (和) PUF / CMOSイメージセンサ / 鍵管理 / Fuzzy Extractor / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 458, HWS2018-84, pp. 169-174, 2019年2月.
資料番号 HWS2018-84 
発行日 2019-02-20 (VLD, HWS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2018-121 HWS2018-84

研究会情報
研究会 HWS VLD  
開催期間 2019-02-27 - 2019-03-02 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Ken Seinen Kaikan 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 
テーマ(英) Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2019-02-HWS-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) CMOSイメージセンサの画素ばらつきを活用したPUF(CIS-PUF)の誤り訂正手法の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Error correction method for PUF utilizing the Pixel Variation in the CMOS Image Sensor 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) PUF /  
キーワード(2)(和/英) CMOSイメージセンサ /  
キーワード(3)(和/英) 鍵管理 /  
キーワード(4)(和/英) Fuzzy Extractor /  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 一色 良太 / Ryota Ishiki / イシキ リョウタ
第1著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 白畑 正芳 / Masayoshi Shirahata / シラハタ マサヨシ
第2著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 大倉 俊介 / Shunsuke Okura / オオクラ シュンスケ
第3著者 所属(和/英) ブリルニクス ジャパン株式会社 (略称: ブリルニクスジャパン)
Brillnics Japan Inc (略称: Brillnics)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 汐崎 充 / Mitsuru Shiozaki / シオザキ ミツル
第4著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 貴也 / Takaya Kubota / クボタ タカヤ
第5著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 石川 賢一郎 / Kenichiro Ishikawa / イシカワ ケンイチロウ
第6著者 所属(和/英) ブリルニクス ジャパン株式会社 (略称: ブリルニクスジャパン)
Brillnics Japan Inc (略称: Brillnics)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 高柳 功 / Isao Takayanagi / タカヤナギ イサオ
第7著者 所属(和/英) ブリルニクス ジャパン株式会社 (略称: ブリルニクスジャパン)
Brillnics Japan Inc (略称: Brillnics)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤野 毅 / Takeshi Fujino / フジノ タケシ
第8著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
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講演者
発表日時 2019-02-28 17:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 HWS 
資料番号 IEICE-VLD2018-121,IEICE-HWS2018-84 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.457(VLD), no.458(HWS) 
ページ範囲 pp.169-174 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2019-02-20,IEICE-HWS-2019-02-20 


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