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講演抄録/キーワード
講演名 2019-02-27 10:15
LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大
抄録 (和) LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設計時に解決される.しかし,LSIテスト時におけるIR-drop増加は,通常動作時より非常に大きいにも関わらず必要以上に対応されることは少ない.テスト時の過度なIR-drop増加は,過度な信号遷移遅延を引き起こし,通常動作では正常な回路を故障と判断する誤テストを引き起こす.本研究では,過度なIR-dropを効果的かつ効率的に削減することために必要な,IR-dropの高いエリア(ホットスポット)の特定技術を提案する. 
(英) Performance degrading caused by high IR-drop in normal functional mode of LSI can be solved by improving power supply network in layout design phase. However, excessive IR-drop in test mode is not appropriately considered in layout design phase, although the amount of increased IR-drop in test mode is much higher than in normal functional mode. Excessive IR-drop in test mode causes test malfunction which judges fault free LSI in normal functional mode as faulty. In this work, we propose a method to locate high IR-drop areas (Hot Spot) which is necessary to effectively and efficiently reduce excessive IR-drop.
キーワード (和) 実速度テスト / テスト時の消費電力 / IR-Drop / 誤テスト / / / /  
(英) at-speed testing / test power / IR-drop / over-testing / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 456, DC2018-74, pp. 19-24, 2019年2月.
資料番号 DC2018-74 
発行日 2019-02-20 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2019-02-27 - 2019-02-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) LSIのホットスポット分布の解析に関する研究 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of the hotspot distribution in the LSI 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 実速度テスト / at-speed testing  
キーワード(2)(和/英) テスト時の消費電力 / test power  
キーワード(3)(和/英) IR-Drop / IR-drop  
キーワード(4)(和/英) 誤テスト / over-testing  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 河野 雄大 / Yudai Kawano / カワノ ユウダイ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 呂 學坤 / Shyue-Kung Lu / ルー シュエクン
第3著者 所属(和/英) 台湾科技大学 (略称: 台湾科技大)
National Taiwan University of Science & Technology (略称: NTUST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第5著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
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講演者
発表日時 2019-02-27 10:15:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2018-74 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.456 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2019-02-20 


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