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講演抄録/キーワード
講演名 2019-02-27 13:40
コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法
吉村正義京都産大)・竹内勇希山崎紘史細川利典日大
抄録 (和) 近年,VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し,遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である.しかし,回路構造に起因するテスト不能故障の影響により,遷移故障検出率は縮退故障検出率に比べて低い傾向にある.そのため遷移故障モデルのテストでは潜在的な故障を見逃す可能性がある.これを防ぐために,遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である.本論文では,コントローラに対する状態割当てによって,遷移故障の故障検出率が変化することを示す.状態割当てに対する遷移故障の故障検出率に関する評価指標であるQDTセットを提案する.実験結果において,評価指標が高い状態割当ては,遷移故障の故障検出率も高いことを示す. 
(英) Recently, it is indispensable to test in transition fault model due to timing defects increase along with complication and high speed of VLSI. However, the transition fault coverage tends to be lower than the stuck-at fault coverage due to untestable faults caused by the circuit structure. Therefore, there is a possibility of missing a potential failure for timing defects. Therefore, it is important to design-for-testability (DFT) to improve fault coverage in the transition fault model. In this paper, we show that transition fault coverages depend on state assignment to a controller in RTL netlist. We propose a QDT set which is an evaluation index on transition fault coverage for state assignment. Experimental results show that state assignment with high evaluation index has high transition fault coverages.
キーワード (和) 遷移故障 / 故障検出率 / 状態割当て / QDT / / / /  
(英) transition fault / fault coverage / state assignment / QDT / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 456, DC2018-78, pp. 43-48, 2019年2月.
資料番号 DC2018-78 
発行日 2019-02-20 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2019-02-27 - 2019-02-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Datapath 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 遷移故障 / transition fault  
キーワード(2)(和/英) 故障検出率 / fault coverage  
キーワード(3)(和/英) 状態割当て / state assignment  
キーワード(4)(和/英) QDT / QDT  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第1著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyo University (略称: Kyoto Sangyo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 勇希 / Yuki Takeuchi / タケウチ ユウキ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第4著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
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講演者
発表日時 2019-02-27 13:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2018-78 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.456 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2019-02-20 


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