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講演抄録/キーワード
講演名 2019-02-27 14:05
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクス
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抄録 (和) 車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要となる.論理組込み自己テスト(LBIST)を用いたPOSTの実行時間の短縮化および故障検出率向上化のためには,マルチサイクルテストは一つの有効な方法である.しかしながら,マルチサイクルテストでは,キャプチャサイクルを増やすことによってキャプチャパターンのランダム性が減少し,故障検出に関する効果が低下することが問題となる.本稿では,まず,我々の従来研究で提案したマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出強化法「FFトグル制御ポイント挿入」[17]を説明する.次に,故障検出強化効果を高めるためのFFトグル制御ポイントの選択法を新たに提案する. 
(英) Multi-cycle Test is a promising way to reduce the test volume of Logic-BIST (Logic Built-in Self-Test) based POST (Power-on Self-Test) for achieving high fault coverage and shortening the TAT (Test Application Time). However, the randomness loss of the capture patterns due to the large number of capture cycles obstructs the further improvement of fault coverage. In this paper, we introduce a FF-CPI technique proposed in [19] to enhance the test quality of the capture patterns, and propose an improved selection method of FF candidates for FF-CPI.
キーワード (和) POST / LBIST / マルチサイクルテスト / 機能安全規格 / ISO26262 / / /  
(英) POST / LBIST / Multi-cycle Test / Functional Safety / ISO26262 / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 456, DC2018-79, pp. 49-54, 2019年2月.
資料番号 DC2018-79 
発行日 2019-02-20 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2019-02-27 - 2019-02-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) FF Toggle Control Point Selection Methods for Fault Detection Enhancement under Multi-cycle Testing 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) POST / POST  
キーワード(2)(和/英) LBIST / LBIST  
キーワード(3)(和/英) マルチサイクルテスト / Multi-cycle Test  
キーワード(4)(和/英) 機能安全規格 / Functional Safety  
キーワード(5)(和/英) ISO26262 / ISO26262  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 青野 智己 / Tomoki Aono / アオノ トモキ
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime Univercity (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Hanan T.Al-Awadhi / Hanan T.Al-Awadhi / Hanan T.Al-Awadhi
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime Univercity (略称: Ehime Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime Univercity (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime Univercity (略称: Ehime Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第5著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime Univercity (略称: Ehime Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata / イワタ ヒロユキ
第6著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Company (略称: Renesas)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 前田 洋一 / Yoichi Maeda / マエダ ヨウイチ
第7著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Company (略称: Renesas)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 松嶋 潤 / Jun Matsushima / マツシマ ジュン
第8著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Company (略称: Renesas)
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講演者
発表日時 2019-02-27 14:05:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2018-79 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.456 
ページ範囲 pp.49-54 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2019-02-20 


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