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講演抄録/キーワード
講演名 2019-02-27 09:25
Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection
Michihiro ShintaniNAIST)・Kouichi KumakiRenesas Electronics Corporation)・Michiko InoueNAIST
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 118, no. 456, DC2018-72, pp. 7-12, 2019年2月.
資料番号 DC2018-72 
発行日 2019-02-20 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2019-02-27 - 2019-02-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-02-DC 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Michihiro Shintani / Michihiro Shintani /
第1著者 所属(和/英) Nara Institute of Science and Technology (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Kouichi Kumaki / Kouichi Kumaki /
第2著者 所属(和/英) Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics Corporation)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics Corporation)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Michiko Inoue / Michiko Inoue /
第3著者 所属(和/英) Nara Institute of Science and Technology (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者
発表日時 2019-02-27 09:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2018-72 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.456 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2019-02-20 


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