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講演抄録/キーワード
講演名 2019-02-27 09:50
キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大
抄録 (和) 初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために,低消費電力を志向したドントケ判定法とドントケア割当て法が提案されている.従来提案されている低消費電力を志向したドントケア判定法は,各テストベクトルで検出する故障数をほぼ均一にするように考慮する.低消費電力を志向したドントケア割当ての品質は,ドントケア判定適用後に生成されるテストキューブに依存する.よって,ドントケア判定の段階でテスト集合に対してさらに低消費電力化を考慮する必要がある.本論文では,消費電力の制約の下で,ランダムに生成したキャプチャセーフテスト集合を用いて,アンセーフ故障のトランシティブファンイン領域の故障に対する故障伝搬経路を算出し,その経路を模倣したドントケア判定法を提案する. ISCAS’89ベンチマーク回路とITC’99ベンチマーク回路に対して本手法を適用した結果,キャプチャアンセーフベクトル数とアンセーフ故障数を削減できたことを示す. 
(英) Low power oriented don't care (X) identification and X filling methods have been proposed to reduce the numbers of capture-unsafe test vectors and unsafe faults in an initial test set. Conventional low power oriented X identification methods identified X's such that the number of detected faults for each test vector was almost same. The quality of low power oriented don't care X filling methods depends on the test cube set generated after the application of X-identification. Therefore, it is important to further consider low power consumption of an initial test set at X-identification stage. In this paper, we analyze fault propagation paths for faults in transitive fan-in regions of unsafe faults using randomly generated capture-safe test vectors and propose a low power oriented X identification method mimicking the fault propagation paths under the power consumption constraint. Experimental results for ISCAS'89 and ITC’99 benchmark circuits show that our proposed method reduced the numbers of capture-unsafe test vectors and unsafe fault compared with a conventional low power oriented X-identification method.
キーワード (和) キャプチャセーフテストベクトル / ドントケア判定 / 故障伝搬経路 / 低消費電力テスト / / / /  
(英) capture-safe test vectors / don’t care identification / fault propagation paths / low power testing / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 456, DC2018-73, pp. 13-18, 2019年2月.
資料番号 DC2018-73 
発行日 2019-02-20 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2019-02-27 - 2019-02-27 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2019-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Low Capture Power Oriented X-Identification Method Mimicking Fault Propagation Paths of Capture Safe Test Vectors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) キャプチャセーフテストベクトル / capture-safe test vectors  
キーワード(2)(和/英) ドントケア判定 / don’t care identification  
キーワード(3)(和/英) 故障伝搬経路 / fault propagation paths  
キーワード(4)(和/英) 低消費電力テスト / low power testing  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三澤 健一郎 / Kenichiro Misawa / ミサワ ケンイチロウ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第4著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyouto Sangyo University (略称: Kyouto Sangyo Univ)
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講演者
発表日時 2019-02-27 09:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2018-73 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.456 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2019-02-20 


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