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講演抄録/キーワード
講演名 2019-02-15 13:05
29th International Conference on Electrical Contacts/64th IEEE Holm Conference on Electrical Contactsの概要報告
澤 孝一郎吉田 清上野貴博日本工大)・鈴木健司富士電機機器制御)   エレソ技報アーカイブはこちら
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文献情報 信学技報, vol. 118, no. 447, EMD2018-53, pp. 1-6, 2019年2月.
資料番号 EMD2018-53 
発行日 2019-02-08 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2019-02-15 - 2019-02-15 
開催地(和) パナソニック企業年金基金 松心会館 
開催地(英)  
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 (共催:信頼性研究会,継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE EPS JAPAN) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2019-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 29th International Conference on Electrical Contacts/64th IEEE Holm Conference on Electrical Contactsの概要報告 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Summary of 29th International Conference on Electrical Contacts and 64th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第1著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 清 / Kiyoshi Yoshida / ヨシダ キヨシ
第2著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 上野 貴博 / Takahiro Ueno / ウエノ タカヒロ
第3著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 健司 / Kenji Suzuki / スズキ ケンジ
第4著者 所属(和/英) 富士電機機器制御 (略称: 富士電機機器制御)
Fuji Electric FA Components & Systems Co.,Ltd. (略称: Fuji Electric)
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講演者
発表日時 2019-02-15 13:05:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2018-52,IEICE-EMD2018-53 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.446(R), no.447(EMD) 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2019-02-08,IEICE-EMD-2019-02-08 


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