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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2019-01-30 11:20 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法 ○王 培坤・ガラバギ アミル マサウド・藤田昌宏（東大）  VLD2018-74 CPSY2018-84 RECONF2018-48 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | This paper proposes an incremental ATPG method to deal with multiple stuck-at faults. In order to generate the test set for n multiple faults, only the additional test patterns for the undetected faults by the existing test patterns for n - 1 multiple faults are generated. Moreover, by introducing an efficient fault selection method, the size of the fault list to be dealt with isreduced drastically compared to the entire fault list of n multiple faults. Our experimental results on ISCAS benchmarks up to triple faults indicates that the proposed method can generate a compact test set to cover all the faults within an acceptable runtime. | |
| キーワード | （和） | Incremental ATPG method / multiple stuck-at faults / undetected faults / fault selection / additional test patterns / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 430, VLD2018-74, pp. 13-18, 2019年1月. | |
| 資料番号 | VLD2018-74 | |
| 発行日 | 2019-01-23 (VLD, CPSY, RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2018-74 CPSY2018-84 RECONF2018-48 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IPSJ-SLDM RECONF VLD CPSY IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2019-01-30 - 2019-01-31 |
| 開催地（和） | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 |
| 開催地（英） | Raiosha, Hiyoshi Campus, Keio University |
| テーマ（和） | FPGA応用および一般 |
| テーマ（英） | FPGA Applications, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2019-01-SLDM-RECONF-VLD-CPSY-ARC |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Incremental Automatic Test Pattern Generation Method for Multiple Stuck-at Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Incremental ATPG method / |
| キーワード(2)（和/英） | multiple stuck-at faults / |
| キーワード(3)（和/英） | undetected faults / |
| キーワード(4)（和/英） | fault selection / |
| キーワード(5)（和/英） | additional test patterns / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 培坤 / Peikun Wang / オウ バイコン |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： UTokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | ガラバギ アミル マサウド / Amir Masoud Gharehbaghi / |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： UTokyo) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤田 昌宏 / Masahiro Fujita / フジタ マサヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： UTokyo) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2019-01-30 11:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2018-74, CPSY2018-84, RECONF2018-48 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.430(VLD), no.431(CPSY), no.432(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.13-18 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-01-23 (VLD, CPSY, RECONF) |
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