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講演抄録/キーワード
講演名 2019-01-25 11:05
[ポスター講演]光配向膜における方位角/極角アンカリングエネルギーのUV照射エネルギー依存性測定
齋藤賢也木村宗弘長岡技科大
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抄録 (和) アンカリングエネルギーは配向規制力の強さを表す指標であり, 液晶の配向制御において重要なパラメータであることから, 本研究室では継続して研究を行っている.
本研究では, 工業的に用いられている光配向膜について, 安定した配向が得られるUV照射エネルギーの調査と, UV照射エネルギーに対する方位角および極角アンカリングエネルギーの測定を行った.
調査の結果, 今回用いた配向膜では0.3~2J/$cm^2$程度のUV照射をした際に安定した配向が得られた.
方位角アンカリングエネルギーはどのUV照射エネルギーにおいても$10^-4$J/$m^2$程度の値が得られた.
極角アンカリングエネルギーは, リバースチルトの発現によって正確な測定ができなかった. 
(英) The surface anchoring energy is an index representing the strength of the alignment restoring force.
Hence it is an important parameter for the liquid crystal displays (LCDs), we are studying on establishing the measurement techniques.
In this study, the dependence of surface azimuthal / polar anchoring energy on UV irradiation dosage which gives proper surface alignment of liquid crystal (LC) molecules was investigated.
As a result of a polyimide for planar alignment, stable alignment state was confirmed with UV irradiation of 0.3 to 2J/$cm^2$.
The azimuthal anchoring energy was about $10^-4$J/$m^2$ at a certain UV irradiation energy.
The polar anchoring energy was not accurately measured due to the reverse tilt.
キーワード (和) 液晶 / 光配向膜 / アンカリングエネルギー / エリプソメトリー / / / /  
(英) liquid crystal / photo alignment film / anchoring energy / ellipsometry / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 422, EID2018-19, pp. 121-124, 2019年1月.
資料番号 EID2018-19 
発行日 2019-01-17 (EID) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 EID ITE-IDY IEIJ-SSL SID-JC IEE-EDD  
開催期間 2019-01-24 - 2019-01-25 
開催地(和) 鹿児島大学 稲盛会館 
開催地(英) Kagoshima University 
テーマ(和) 発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EID 
会議コード 2019-01-EID-IDY-SSL-JC-EDD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光配向膜における方位角/極角アンカリングエネルギーのUV照射エネルギー依存性測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Measurement of dependence of UV irradiation energy on azimuthal and polar anchoring energy for photo alignment film 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 液晶 / liquid crystal  
キーワード(2)(和/英) 光配向膜 / photo alignment film  
キーワード(3)(和/英) アンカリングエネルギー / anchoring energy  
キーワード(4)(和/英) エリプソメトリー / ellipsometry  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 齋藤 賢也 / Kenya Saito / サイトウ ケンヤ
第1著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 木村 宗弘 / Munehiro Kimura / キムラ ムネヒロ
第2著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
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講演者
発表日時 2019-01-25 11:05:00 
発表時間
申込先研究会 EID 
資料番号 IEICE-EID2018-19 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.422 
ページ範囲 pp.121-124 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EID-2019-01-17 


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