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講演抄録/キーワード
講演名 2018-12-14 13:00
FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大
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抄録 (和) 最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,劣化による遅延の増加を検出するためには,フィールドで定期的に遅延測定を行うことが有効である.そこで,著者らはFPGA搭載論理の自己テストにおいて,可変なテストタイミングを用いた回路の遅延測定手法を提案した.しかし,フィールドで測定される遅延値は,テスト時の温度などの環境要因によっても変動するため,測定値から温度による遅延変動分を補正する必要がある.本論文では,FPGAに対して,遅延測定回路と温度センサとを組み合わせることで,温度影響を補正可能なオンチップ遅延測定手法を提案する. 
(英) Delay-related failures due to aging phenomena are a critical issue of state-of-the-art VLSI systems. In order to detect a delay increase by aging, repeated delay measurement in field is effective. A delay measurement method based on BIST (Built-In Self-Test) with variable test timing generation has been proposed for FPGAs. However, the measured delay in field is influenced of environment factors such as temperature variation. Thus, a correction of temperature influence for the measured delay is required for highly accurate delay measurement. This paper proposes a correction method of temperature influence for a measured delay. The proposed method consists of delay measurement with variable test timing generation and correction of temperature influence with an embedded temperature sensor.
キーワード (和) FPGA / 論理BIST / 遅延測定 / 温度センサ / フィールドテスト / / /  
(英) FPGA / Logic BIST / Delay measurement / Temperature sensor / Field test / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 364, DC2018-58, pp. 1-6, 2018年12月.
資料番号 DC2018-58 
発行日 2018-12-07 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2018-12-14 - 2018-12-14 
開催地(和) 沖縄県立宮古青少年の家 
開催地(英) Miyako Seisyonen-No-Ie 
テーマ(和) (第3回)Winter Workshop on safety - 安全性に関する冬のワークショップ - (共催:日本信頼性学会) 
テーマ(英) 3rd Winter Workshop on safety 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2018-12-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) FPGA / FPGA  
キーワード(2)(和/英) 論理BIST / Logic BIST  
キーワード(3)(和/英) 遅延測定 / Delay measurement  
キーワード(4)(和/英) 温度センサ / Temperature sensor  
キーワード(5)(和/英) フィールドテスト / Field test  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
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講演者
発表日時 2018-12-14 13:00:00 
発表時間 20 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2018-58 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.364 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2018-12-07 


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