| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-12-07 09:25 トランジスタサイズを変えた記憶保持特性の異なるフリップフロップ群を利用したばらつき評価 ○深澤研人・西澤真一・伊藤和人（埼玉大）  VLD2018-66 DC2018-52 |
|
| 抄録 | （和） | トランジスタの特性ばらつきをフリップフロップの記憶保持特性を用いて推定する．集積回路中に記憶素子として存在するスキャンフリップフロップをばらつきセンサとして流用することで面積コストを抑えることができる．トランジスタサイズを変更した記憶保持特性の異なるフリップフロップ群を利用することで測定時間を削減する手法を提案する．特性ばらつきに対して感度の異なるリングオシレータ回路と組み合わせて利用することで，PMOSトランジスタとNMOSトランジスタの特性ばらつきを個別に推定することができる．65 nmプロセスを対象に設計実験を行った結果，しきい値電圧のばらつき量を推定する事ができ，その誤差はPMOSトランジスタで平均1.75 mV，NMOSトランジスタで平均1.17 mVであった． |
| （英） | This paper proposes to use multiple D-Flip-Flops having different retention characteristics with Ring Oscillator to monitor the PMOS and NMOS variabilities. Flip-Flops in Scan Chain are used as a process monitor circuit to estimate the amount of process variation. The retention characteristics of Flip-Flops strongly depend on the PMOS and NMOS transistors. We propose to use Flip-Flops with various transistors width to estimate the amount of process variation with one-shot measurement. Experimental result targeting 65 nm process shows that we can estimate the amount of threshold variation and the estimated errors are 1.75 mV and 1.17 mV for PMOS and NMOS transistor, respectively. | |
| キーワード | （和） | 特性ばらつき / フリップフロップ / / / / / / |
| （英） | Variation / Flip-Flop / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 334, VLD2018-66, pp. 189-193, 2018年12月. | |
| 資料番号 | VLD2018-66 | |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2018-66 DC2018-52 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2018-12-05 - 2018-12-07 |
| 開催地（和） | サテライトキャンパスひろしま |
| 開催地（英） | Satellite Campus Hiroshima |
| テーマ（和） | デザインガイア2018 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2018 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2018-12-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | トランジスタサイズを変えた記憶保持特性の異なるフリップフロップ群を利用したばらつき評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Flip-Flops with different retention characteristics for process variation estimation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 特性ばらつき / Variation |
| キーワード(2)（和/英） | フリップフロップ / Flip-Flop |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深澤 研人 / Kento Fukazawa / フカザワ ケント |
| 第1著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西澤 真一 / Shinichi Nishizawa / |
| 第2著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 和人 / Kazuhito Ito / |
| 第3著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-12-07 09:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2018-66, DC2018-52 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.334(VLD), no.335(DC) |
| ページ範囲 | pp.189-193 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2018-11-28 (VLD, DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]