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講演抄録/キーワード
講演名 2018-12-07 09:25
トランジスタサイズを変えた記憶保持特性の異なるフリップフロップ群を利用したばらつき評価
深澤研人西澤真一伊藤和人埼玉大
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抄録 (和) トランジスタの特性ばらつきをフリップフロップの記憶保持特性を用いて推定する.集積回路中に記憶素子として存在するスキャンフリップフロップをばらつきセンサとして流用することで面積コストを抑えることができる.トランジスタサイズを変更した記憶保持特性の異なるフリップフロップ群を利用することで測定時間を削減する手法を提案する.特性ばらつきに対して感度の異なるリングオシレータ回路と組み合わせて利用することで,PMOSトランジスタとNMOSトランジスタの特性ばらつきを個別に推定することができる.65 nmプロセスを対象に設計実験を行った結果,しきい値電圧のばらつき量を推定する事ができ,その誤差はPMOSトランジスタで平均1.75 mV,NMOSトランジスタで平均1.17 mVであった. 
(英) This paper proposes to use multiple D-Flip-Flops having different retention characteristics with Ring Oscillator to monitor the PMOS and NMOS variabilities. Flip-Flops in Scan Chain are used as a process monitor circuit to estimate the amount of process variation. The retention characteristics of Flip-Flops strongly depend on the PMOS and NMOS transistors. We propose to use Flip-Flops with various transistors width to estimate the amount of process variation with one-shot measurement. Experimental result targeting 65 nm process shows that we can estimate the amount of threshold variation and the estimated errors are 1.75 mV and 1.17 mV for PMOS and NMOS transistor, respectively.
キーワード (和) 特性ばらつき / フリップフロップ / / / / / /  
(英) Variation / Flip-Flop / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 334, VLD2018-66, pp. 189-193, 2018年12月.
資料番号 VLD2018-66 
発行日 2018-11-28 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM 
開催期間 2018-12-05 - 2018-12-07 
開催地(和) サテライトキャンパスひろしま 
開催地(英) Satellite Campus Hiroshima 
テーマ(和) デザインガイア2018 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2018 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2018-12-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) トランジスタサイズを変えた記憶保持特性の異なるフリップフロップ群を利用したばらつき評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Flip-Flops with different retention characteristics for process variation estimation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 特性ばらつき / Variation  
キーワード(2)(和/英) フリップフロップ / Flip-Flop  
キーワード(3)(和/英) /  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 深澤 研人 / Kento Fukazawa / フカザワ ケント
第1著者 所属(和/英) 埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 西澤 真一 / Shinichi Nishizawa /
第2著者 所属(和/英) 埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 和人 / Kazuhito Ito /
第3著者 所属(和/英) 埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.)
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講演者
発表日時 2018-12-07 09:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2018-66,IEICE-DC2018-52 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.334(VLD), no.335(DC) 
ページ範囲 pp.189-193 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-VLD-2018-11-28,IEICE-DC-2018-11-28 


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