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講演抄録/キーワード
講演名 2018-12-06 10:55
ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について
越智小百合三澤健一郎細川利典山内ゆかり新井雅之日大VLD2018-51 DC2018-37
抄録 (和) 実速度スキャンテストにおいて,過度のキャプチャ消費電力はIRドロップを引き起こし,誤テストにより歩留り損失が発生する.キャプチャ消費電力を削減するためのテスト生成法として,キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣し低消費電力テストベクトルを生成する手法が提案されている.しかしながら,キャプチャセーフベクトル数が少ない場合,故障によっては模倣するベクトルが存在しない場合がある.本論文ではテストベクトルとフリップフロップの状態遷移情報を入力層,回路構造を中間層,キャプチャセーフの判定を出力層に構築したニューラルネットワークを用いてランダムテストベクトルの消費電力特性を学習し,効率的にランダムキャプチャセーフテストベクトルを生成する手法を検討する. 
(英) Excessive capture power consumption at scan testing causes the excessive IR drop and it might cause test-induced yield loss. A low-capture-power test generation method for transition faults based on LOC using fault simulation was proposed to resolve the problem. The method mimics fault propagation path information for capture-safe test vectors which have low launch switching activity in the initial test sets. However, when the number of capture-safe test vectors is smaller, there exists faults which do not have any mimicked capture-safe test vectors. In this paper, we construct neural networks which are constituted from a test vector and state transition information of flip-flops as an input layer, circuit structure information as a middle layer, and capture-safe decision as an output layer. We learn low power properties of random test vectors using the neural network and consider an effective method of random capture-safe test vector generation using the neural network.
キーワード (和) 低消費電力テスト / キャプチャセーフテストベクトル / ニューラルネットワーク / 誤差逆伝播法 / / / /  
(英) low power testing / capture-safe test vectors / neural network / back propagation methods / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 335, DC2018-37, pp. 89-94, 2018年12月.
資料番号 DC2018-37 
発行日 2018-11-28 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2018-51 DC2018-37

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM 
開催期間 2018-12-05 - 2018-12-07 
開催地(和) サテライトキャンパスひろしま 
開催地(英) Satellite Campus Hiroshima 
テーマ(和) デザインガイア2018 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2018 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2018-12-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On the Generation of Random Capture Safe Test Vectors Using Neural Networks 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 低消費電力テスト / low power testing  
キーワード(2)(和/英) キャプチャセーフテストベクトル / capture-safe test vectors  
キーワード(3)(和/英) ニューラルネットワーク / neural network  
キーワード(4)(和/英) 誤差逆伝播法 / back propagation methods  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 越智 小百合 / Sayuri Ochi / オチ サユリ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 三澤 健一郎 / Kenichirou Misawa / ミサワ ケンイチロウ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 山内 ゆかり / Yukari Yamauchi / ヤマウチ ユカリ
第4著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第5著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
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講演者
発表日時 2018-12-06 10:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2018-51,IEICE-DC2018-37 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.334(VLD), no.335(DC) 
ページ範囲 pp.89-94 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2018-11-28,IEICE-DC-2018-11-28 


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