講演抄録/キーワード |
講演名 |
2018-12-06 10:55
ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について ○越智小百合・三澤健一郎・細川利典・山内ゆかり・新井雅之(日大) VLD2018-51 DC2018-37 |
抄録 |
(和) |
実速度スキャンテストにおいて,過度のキャプチャ消費電力はIRドロップを引き起こし,誤テストにより歩留り損失が発生する.キャプチャ消費電力を削減するためのテスト生成法として,キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣し低消費電力テストベクトルを生成する手法が提案されている.しかしながら,キャプチャセーフベクトル数が少ない場合,故障によっては模倣するベクトルが存在しない場合がある.本論文ではテストベクトルとフリップフロップの状態遷移情報を入力層,回路構造を中間層,キャプチャセーフの判定を出力層に構築したニューラルネットワークを用いてランダムテストベクトルの消費電力特性を学習し,効率的にランダムキャプチャセーフテストベクトルを生成する手法を検討する. |
(英) |
Excessive capture power consumption at scan testing causes the excessive IR drop and it might cause test-induced yield loss. A low-capture-power test generation method for transition faults based on LOC using fault simulation was proposed to resolve the problem. The method mimics fault propagation path information for capture-safe test vectors which have low launch switching activity in the initial test sets. However, when the number of capture-safe test vectors is smaller, there exists faults which do not have any mimicked capture-safe test vectors. In this paper, we construct neural networks which are constituted from a test vector and state transition information of flip-flops as an input layer, circuit structure information as a middle layer, and capture-safe decision as an output layer. We learn low power properties of random test vectors using the neural network and consider an effective method of random capture-safe test vector generation using the neural network. |
キーワード |
(和) |
低消費電力テスト / キャプチャセーフテストベクトル / ニューラルネットワーク / 誤差逆伝播法 / / / / |
(英) |
low power testing / capture-safe test vectors / neural network / back propagation methods / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 118, no. 335, DC2018-37, pp. 89-94, 2018年12月. |
資料番号 |
DC2018-37 |
発行日 |
2018-11-28 (VLD, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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VLD2018-51 DC2018-37 |