電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ/通ソ)
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2018-12-06 13:25
論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大)   エレソ技報アーカイブはこちら
抄録 (和) スキャンベースの論理BISTでは,過度のテスト時消費電力が問題となる.一方,電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減とのトレードオフであるため,単に電力削減だけではなくテスト対象回路毎に適した電力レベルでのテストが必要となる.本稿では,テスト電力制御と故障検出率向上のためのスキャンイン電力制御手法にスキャンアウト及びキャプチャ電力低減手法を組合せた総合的なテスト電力制御手法の評価を行った.論理/故障シミュレーション評価及びTEG実測定評価でテスト電力制御の有効性を示す. 
(英) Scan-based logic BIST has a crucial problem of high test power dissipation. Its solution requires a flexible test power control specified for each circuit because of trade-off between test power, fault coverage, and test application time. This paper addresses evaluation of the scan-in power reduction techniques with scan-out and capture reduction techniques. In addition to simulation-based experiments, measurement results of TEG chips’ experiments are shown to make sure the effectiveness of the techniques.
キーワード (和) BIST / スキャンテスト / スキャンシフト電力 / キャプチャ電力 / マルチサイクルテスト / / /  
(英) BIST / Scan Test / Scan power / Capture power / Multi-Cycle Test / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 335, DC2018-43, pp. 125-130, 2018年12月.
資料番号 DC2018-43 
発行日 2018-11-28 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM 
開催期間 2018-12-05 - 2018-12-07 
開催地(和) サテライトキャンパスひろしま 
開催地(英) Satellite Campus Hiroshima 
テーマ(和) デザインガイア2018 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2018 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2018-12-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of Flexible Test Power Control for Logic BIST in TEG Chips 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) BIST / BIST  
キーワード(2)(和/英) スキャンテスト / Scan Test  
キーワード(3)(和/英) スキャンシフト電力 / Scan power  
キーワード(4)(和/英) キャプチャ電力 / Capture power  
キーワード(5)(和/英) マルチサイクルテスト / Multi-Cycle Test  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2018-12-06 13:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2018-57,IEICE-DC2018-43 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.334(VLD), no.335(DC) 
ページ範囲 pp.125-130 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2018-11-28,IEICE-DC-2018-11-28 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会