| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-11-22 14:20 A Novel Eye-Diagram Estimation Method for Pulse Amplitude Modulation with N-level on Stacked Through Silicon Vias ○Junyong Park・Youngwoo Kim・Kyungjun Cho・Seongsoo Lee・Joungho Kim（KAIST）  EMCJ2018-64 |
|
| 抄録 | （和） | This paper proposed an eye-diagram estimation method for pulse amplitude modulation with N-level signaling. For verification, a through-silicon via (TSV) channel was fabricated. The proposed method and measurements have nearly the same eye-height and eye-width values at data rates of 2, 4, and 8 Gb/s. Furthermore, the bathtub curves were also compared. The proposed method provides a bathtub curve up to 10–12, but in contrast, the measurements only provide a bathtub curve up to 10–5 due to the limited number of samples. In conclusion, the eye-diagram estimation method for PAM-N signaling is successfully proposed and verified. |
| （英） | This paper proposed an eye-diagram estimation method for pulse amplitude modulation with N-level signaling. For verification, a through-silicon via (TSV) channel was fabricated. The proposed method and measurements have nearly the same eye-height and eye-width values at data rates of 2, 4, and 8 Gb/s. Furthermore, the bathtub curves were also compared. The proposed method provides a bathtub curve up to 10–12, but in contrast, the measurements only provide a bathtub curve up to 10–5 due to the limited number of samples. In conclusion, the eye-diagram estimation method for PAM-N signaling is successfully proposed and verified. | |
| キーワード | （和） | eye diagram / eye diagram estimation / multilevel signaling / pulse amplitude modulation (PAM) / single bit response (SBR) / through-silicon via (TSV) / / |
| （英） | eye diagram / eye diagram estimation / multilevel signaling / pulse amplitude modulation (PAM) / single bit response (SBR) / through-silicon via (TSV) / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 317, EMCJ2018-64, pp. 29-29, 2018年11月. | |
| 資料番号 | EMCJ2018-64 | |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2018-64 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC IEE-MAG |
| 開催期間 | 2018-11-22 - 2018-11-23 |
| 開催地（和） | KAIST（韓国大田市） |
| 開催地（英） | KAIST |
| テーマ（和） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| テーマ（英） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2018-11-EMCJ-EMC-MAG |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Novel Eye-Diagram Estimation Method for Pulse Amplitude Modulation with N-level on Stacked Through Silicon Vias |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | eye diagram / eye diagram |
| キーワード(2)（和/英） | eye diagram estimation / eye diagram estimation |
| キーワード(3)（和/英） | multilevel signaling / multilevel signaling |
| キーワード(4)（和/英） | pulse amplitude modulation (PAM) / pulse amplitude modulation (PAM) |
| キーワード(5)（和/英） | single bit response (SBR) / single bit response (SBR) |
| キーワード(6)（和/英） | through-silicon via (TSV) / through-silicon via (TSV) |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | Junyong Park / Junyong Park / |
| 第1著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | Youngwoo Kim / Youngwoo Kim / |
| 第2著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | Kyungjun Cho / Kyungjun Cho / |
| 第3著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | Seongsoo Lee / Seongsoo Lee / |
| 第4著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | Joungho Kim / Joungho Kim / |
| 第5著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology (略称： KAIST) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-11-22 14:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2018-64 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.317 |
| ページ範囲 | p.29 |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]