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講演抄録/キーワード
講演名 2018-11-16 09:40
自由空間法を用いた電波吸収体の測定に関する一検討
鈴木仁哉花澤理宏UL Japan)・島 宏美亀井利久防衛大)   エレソ技報アーカイブはこちら
抄録 (和) ミリ波帯における反射・透過および吸収特性を評価する手法の一つとして自由空間法がある.
自由空間法は導波管法や共振器法等のように被測定物に高い加工精度を要求しない等のメリットがある.
本検討では,誘電体レンズアンテナを対向させた自由空間システムを用いていくつかの基礎検討を行った.
検討では,まず TRL (Through-Reflection-Line) 校正を実施した後,複素比誘電率が既知である石英ガラスの反射・透過特性を $75$ -- $110 , mathrm{GHz}$ の帯域において測定した.
反射および透過特性は,文献に記載された複素比誘電率に基づくシミュレーション結果と良好に一致した.
さらに同測定系を用いて,いくつかの電波吸収体の吸収特性を測定した. 
(英) A Free Space Method is one of measurement method for analyzing properties of reflection, transmission and absorption.
The Free Space Method has some advantages.
For example it is not required to process accurately as the waveguide method and the resonance method.
In this study, we carried out a basic study using such the free space system which is a pair of dielectric lens antenna.
At first we perform TRL (Through-Reflection-Line) calibration, we measured properties of reflection and transmission of a fused quartz in $75$ -- $110 unit{GHz}$.
As a result, we confirmed that properties of reflection and transmission by the measurement and the result of electromagnetic field simulation which is based on a literature are good agreement.
Moreover, we also measured the absorption property of some microwave absorbers using the measurement system.
キーワード (和) 自由空間法 / Through-Reflection-Line 校正 / S パラメータ / 電磁界シミュレーション / / / /  
(英) Free Space Method / Through-Reflection-Line calibration / S parameter / Electromagnetic simulation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 308, MW2018-105, pp. 67-70, 2018年11月.
資料番号 MW2018-105 
発行日 2018-11-08 (MW) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 MW  
開催期間 2018-11-15 - 2018-11-16 
開催地(和) 福江文化会館 
開催地(英) Fukue Cultural Hall 
テーマ(和) マイクロ波/一般 
テーマ(英) Microwave Technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MW 
会議コード 2018-11-MW 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 自由空間法を用いた電波吸収体の測定に関する一検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Study on Measurement of Microwave Absorber by Free Space Method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 自由空間法 / Free Space Method  
キーワード(2)(和/英) Through-Reflection-Line 校正 / Through-Reflection-Line calibration  
キーワード(3)(和/英) S パラメータ / S parameter  
キーワード(4)(和/英) 電磁界シミュレーション / Electromagnetic simulation  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 仁哉 / Masaya Suzuki / スズキ マサヤ
第1著者 所属(和/英) 株式会社UL Japan (略称: UL Japan)
UL Japan (略称: UL Japan)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 花澤 理宏 / Masahiro Hanazawa / ハナザワ マサヒロ
第2著者 所属(和/英) 株式会社UL Japan (略称: UL Japan)
UL Japan (略称: UL Japan)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 島 宏美 / Hiromi Shima / シマ ヒロミ
第3著者 所属(和/英) 防衛大学校 (略称: 防衛大)
National Defense Academy (略称: NDA)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 亀井 利久 / Toshihisa Kamei / カメイ トシヒサ
第4著者 所属(和/英) 防衛大学校 (略称: 防衛大)
National Defense Academy (略称: NDA)
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講演者
発表日時 2018-11-16 09:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 MW 
資料番号 IEICE-MW2018-105 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.308 
ページ範囲 pp.67-70 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-MW-2018-11-08 


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