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講演抄録/キーワード
講演名 2018-08-23 15:55
[招待講演]デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム ~ その背景と課題さらにその展望 ~
小林敏夫芝浦工大R2018-23 EMD2018-26 CPM2018-26 OPE2018-53 LQE2018-42 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2018-26 CPM2018-26 OPE2018-53 LQE2018-42
抄録 (和) 半導体技術に支えられたデジタル技術はその圧倒的な利便性と能力によって個人の生活と社会活動のために必須な技術なった.その一方で,デジタルデータを長期間保管するためには持続する意志と継続的な財政戦略が必要であることが知られている.いずれかが失われるとデジタルデータは失われる.紙媒体のように意図せずして将来に情報が残ることはない.短期的に価値を生まない情報,コンテンツは,将来人類にとって重要になるものでも失われる.このような状況をデジタル暗黒時代と言う.この問題を解決する第一歩として,現在「デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム」の研究が進められている. 多くの問題があるが,長期保存のためのストレージには潜在的に非常に大きな市場がある. 
(英) Digital technology based on semiconductor technology has become indispensable technology for personal living and social activities by its overwhelming convenience and ability. On the other hand, it is known that in order to long-term preservation of digital data is a necessary ongoing financial strategy and the will to persist. If one of them is lost, there is impossible to preserve an information in the future, unlike paper media. Information that does not produce value in the short term, contents, even those that will become important to humanity in the future will be lost. Such a situation is called as the digital dark ages. As a first step to get the solution of this problem, researches on "Highly reliable long-term semiconductor memory system" are underway. There are many issues, however there is a potentially very huge business of the storage for long-term preservation.
キーワード (和) 長期保管 / 半導体 / 不揮発性メモリ / 配線 / エミュレーション / マイグレーション / /  
(英) Long-term preservation / Semiconductor / Non-volatile memory / Wiring / Emulation / Migration / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 185, R2018-23, pp. 31-36, 2018年8月.
資料番号 R2018-23 
発行日 2018-08-16 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2018-23 EMD2018-26 CPM2018-26 OPE2018-53 LQE2018-42 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2018-26 CPM2018-26 OPE2018-53 LQE2018-42

研究会情報
研究会 EMD LQE OPE CPM R  
開催期間 2018-08-23 - 2018-08-24 
開催地(和) 小樽経済センター 
開催地(英) Otaru Camber of Commerce & Industry 
テーマ(和) 光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2018-08-EMD-LQE-OPE-CPM-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム 
サブタイトル(和) その背景と課題さらにその展望 
タイトル(英) Highly reliable memory system realizing long-term preservation of digital data 
サブタイトル(英) The background, issues and the prospects 
キーワード(1)(和/英) 長期保管 / Long-term preservation  
キーワード(2)(和/英) 半導体 / Semiconductor  
キーワード(3)(和/英) 不揮発性メモリ / Non-volatile memory  
キーワード(4)(和/英) 配線 / Wiring  
キーワード(5)(和/英) エミュレーション / Emulation  
キーワード(6)(和/英) マイグレーション / Migration  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 敏夫 / Toshio Kobayashi / コバヤシ トシオ
第1著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
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講演者
発表日時 2018-08-23 15:55:00 
発表時間 45 
申込先研究会 R 
資料番号 IEICE-R2018-23,IEICE-EMD2018-26,IEICE-CPM2018-26,IEICE-OPE2018-53,IEICE-LQE2018-42 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.185(R), no.186(EMD), no.187(CPM), no.188(OPE), no.189(LQE) 
ページ範囲 pp.31-36 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2018-08-16,IEICE-EMD-2018-08-16,IEICE-CPM-2018-08-16,IEICE-OPE-2018-08-16,IEICE-LQE-2018-08-16 


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