講演抄録/キーワード |
講演名 |
2018-08-08 09:45
Understanding Temperature Effect on Subthreshold Slope Variability in Bulk and SOTB MOSFETs ○Shuang Gao・Tomoko Mizutani・Kiyoshi Takeuchi・Masaharu Kobayashi・Toshiro Hiramoto(Univ. Tokyo) SDM2018-37 ICD2018-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2018-37 ICD2018-24 |
抄録 |
(和) |
We present a new finding that subthreshold slope (SS) variability is reduced at high temperature in both bulk and silicon-on-thin-box (SOTB) FETs, owing to a negative correlation between SS and its temperature coefficient dSS/dT. For understanding the temperature effect on subthreshold slope variability, an effective current path model is proposed, and verified by 3D TCAD simulation. |
(英) |
We present a new finding that subthreshold slope (SS) variability is reduced at high temperature in both bulk and silicon-on-thin-box (SOTB) FETs, owing to a negative correlation between SS and its temperature coefficient dSS/dT. For understanding the temperature effect on subthreshold slope variability, an effective current path model is proposed, and verified by 3D TCAD simulation. |
キーワード |
(和) |
Variability / Subthreshold Slope / Temperature / / / / / |
(英) |
Variability / Subthreshold Slope / Temperature / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 118, no. 172, SDM2018-37, pp. 65-70, 2018年8月. |
資料番号 |
SDM2018-37 |
発行日 |
2018-07-31 (SDM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
SDM2018-37 ICD2018-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2018-37 ICD2018-24 |
研究会情報 |
研究会 |
SDM ICD ITE-IST |
開催期間 |
2018-08-07 - 2018-08-09 |
開催地(和) |
北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 |
開催地(英) |
Hokkaido Univ., Graduate School of IST M Bldg., M151 |
テーマ(和) |
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
テーマ(英) |
Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
SDM |
会議コード |
2018-08-SDM-ICD-IST |
本文の言語 |
英語 |
タイトル(和) |
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サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Understanding Temperature Effect on Subthreshold Slope Variability in Bulk and SOTB MOSFETs |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
Variability / Variability |
キーワード(2)(和/英) |
Subthreshold Slope / Subthreshold Slope |
キーワード(3)(和/英) |
Temperature / Temperature |
キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
高 爽 / Shuang Gao / |
第1著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
水谷 朋子 / Tomoko Mizutani / |
第2著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
竹内 潔 / Kiyoshi Takeuchi / |
第3著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小林 正治 / Masaharu Kobayashi / |
第4著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
平本 俊郎 / Toshiro Hiramoto / |
第5著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2018-08-08 09:45:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
SDM |
資料番号 |
SDM2018-37, ICD2018-24 |
巻番号(vol) |
vol.118 |
号番号(no) |
no.172(SDM), no.173(ICD) |
ページ範囲 |
pp.65-70 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2018-07-31 (SDM, ICD) |
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