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講演抄録/キーワード
講演名 2018-08-08 09:45
Understanding Temperature Effect on Subthreshold Slope Variability in Bulk and SOTB MOSFETs
Shuang GaoTomoko MizutaniKiyoshi TakeuchiMasaharu KobayashiToshiro HiramotoUniv. TokyoSDM2018-37 ICD2018-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2018-37 ICD2018-24
抄録 (和) We present a new finding that subthreshold slope (SS) variability is reduced at high temperature in both bulk and silicon-on-thin-box (SOTB) FETs, owing to a negative correlation between SS and its temperature coefficient dSS/dT. For understanding the temperature effect on subthreshold slope variability, an effective current path model is proposed, and verified by 3D TCAD simulation. 
(英) We present a new finding that subthreshold slope (SS) variability is reduced at high temperature in both bulk and silicon-on-thin-box (SOTB) FETs, owing to a negative correlation between SS and its temperature coefficient dSS/dT. For understanding the temperature effect on subthreshold slope variability, an effective current path model is proposed, and verified by 3D TCAD simulation.
キーワード (和) Variability / Subthreshold Slope / Temperature / / / / /  
(英) Variability / Subthreshold Slope / Temperature / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 172, SDM2018-37, pp. 65-70, 2018年8月.
資料番号 SDM2018-37 
発行日 2018-07-31 (SDM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード SDM2018-37 ICD2018-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2018-37 ICD2018-24

研究会情報
研究会 SDM ICD ITE-IST  
開催期間 2018-08-07 - 2018-08-09 
開催地(和) 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 
開催地(英) Hokkaido Univ., Graduate School of IST M Bldg., M151 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2018-08-SDM-ICD-IST 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Understanding Temperature Effect on Subthreshold Slope Variability in Bulk and SOTB MOSFETs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Variability / Variability  
キーワード(2)(和/英) Subthreshold Slope / Subthreshold Slope  
キーワード(3)(和/英) Temperature / Temperature  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高 爽 / Shuang Gao /
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 水谷 朋子 / Tomoko Mizutani /
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 潔 / Kiyoshi Takeuchi /
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 正治 / Masaharu Kobayashi /
第4著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 平本 俊郎 / Toshiro Hiramoto /
第5著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
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講演者
発表日時 2018-08-08 09:45:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SDM 
資料番号 IEICE-SDM2018-37,IEICE-ICD2018-24 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.172(SDM), no.173(ICD) 
ページ範囲 pp.65-70 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-SDM-2018-07-31,IEICE-ICD-2018-07-31 


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