| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2018-07-26 13:35
［招待講演］光プローブ高周波磁界計測における変調方式に関する検討
○石山和志（東北大） エレソ技報アーカイブはこちら |
| 抄録 |
（和） |
高周波の近傍磁界計測はEMIの観点からも重要な技術となっている。これまで提案されている測定手法では、計測プローブが金属であることや金属ケーブルを用いていることから、被測定磁界と金属との間の誘導性結合により意図しない電圧が生じ、正確な測定ができないことが問題とされてきた。それに対して光を用いた手法は金属を排した測定が可能であることから侵襲性が極めて低いため、この問題を解決できると考えられる。ここでは、光を用いた手法の測定感度を高めるための、新しい変調手法を紹介する。これは同じ周波数で位相の異なる二つの波形をパルスレーザのトリガ波形として準備し、特定周波数でそれらの波形を切り替えながらレーザ発行させることにより、ロックインアンプでの増幅を可能とし高い周波数での計測が可能となることを示した。これを用いることで、ICチップ周辺の高周波磁界分布の可視化に成功した。 |
| （英） |
Measuring magnetic near field is one of the key technologies against the problem of the electromagnetic interference (EMI). However the previous methods generally use metal probes and cables. Therefore the accuracy of the system is poor by the many unexpected couplings between the metals and the measuring magnetic fields. Measurements that use the magneto-optical effect can overcome this problem. The magneto-optical measurements do not use any metallic materials and cables, therefore it has very small invasive for the magnetic fields. To achieve a high resolution, a stroboscopic method that employs short laser pulses are utilized. To improve the sensitivity, a new modulation system was carried out. Two waveforms having same frequency and different phase are used for modulate the pulsed laser. By switching the waveforms, modulated signal can obtained. Therefore the measured signal can be enlarged using the Lock-in amplifier. As a result, the proposed system can visualized RF magnetic near-field around IC chips. |
| キーワード |
（和） |
高周波近傍磁界計測 / 光プローブ / 低侵襲 / / / / / |
| （英） |
High frequency magnetic near field / optical probe / low invasive / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報 |
| 資料番号 |
|
| 発行日 |
|
| ISSN |
|
| PDFダウンロード |
|