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講演抄録/キーワード
講演名 2018-07-26 13:10
光電界センサ/光電圧プローブによるESD評価
大沢隆二精工技研)   エレソ技報アーカイブはこちら
抄録 (和) 静電気放電(Electro-Static Discharge)によるイミュニティ試験について、国際的にIEC 61000-4-2 で試験方法が規定されている。この規格またはこれに類する規格によって多くの機器が破壊・誤動作の有無またはその程度によって耐性分類を行っている。 このESD評価について、MZ型光導波路を持つ光電界センサおよび光電圧プローブを使用することにより、新たな知見を得ることができた。 まだ検討を始めたばかりであるが光導波路を使ったセンシングについて新たな用途を示唆するものと考えられる。 本報告ではそれらの中の3つの用途①試験対象のグランドが異なる場合のESD電界の測定、②間接放電試験法における発生電界分布測定、③ロボット誤動作を起こすノイズ電圧信号の測定について報告する。 
(英) For the immunity test by ESD (Electro-Static Discharge),the test method is internationally specified in IEC61000-4-2. Many instruments are classified as tolerance depending on the presence or absence of destruction or malfunction or the extent thereof depending on this standard or similar standards. For this ESD evaluation, we could obtain new findings by using Optical E-field Sensor and Optical Voltage Probe with MZ type optical waveguide. It is thought that this is suggesting a new use for sensing using optical waveguide, although it is just starting to study. In this presentation we will report on three applications among them. 1) Measurement of ESD electric field when the test ground is different.
2)Measurement of generated E-field distribution in indirect discharge test method. 3)Measurement of noise voltage signal causing robot malfunction.
キーワード (和) 光電界センサ / 光電圧プローブ / IEC16000-4-2 / ESD / 誤動作 / MZ型光導波路 / 間接放電試験法 /  
(英) Optical E-field Sensor / Optical Voltage proe / IEC 16000-4-2 / ESD / malfunction / MZ type optical waveguide / Indirect discharge test method /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 EMCJ IEE-SPC EMD PEM  
開催期間 2018-07-26 - 2018-07-26 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 実装,EMC一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 PEM 
会議コード 2018-07-EMCJ-SPC-EMD-PEM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光電界センサ/光電圧プローブによるESD評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) ESD evaluation using Optical E-Field Sensor/Optical Voltage Sensor 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 光電界センサ / Optical E-field Sensor  
キーワード(2)(和/英) 光電圧プローブ / Optical Voltage proe  
キーワード(3)(和/英) IEC16000-4-2 / IEC 16000-4-2  
キーワード(4)(和/英) ESD / ESD  
キーワード(5)(和/英) 誤動作 / malfunction  
キーワード(6)(和/英) MZ型光導波路 / MZ type optical waveguide  
キーワード(7)(和/英) 間接放電試験法 / Indirect discharge test method  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大沢 隆二 / Ryuji Osawa / オオサワ リュウジ
第1著者 所属(和/英) (株)精工技研 (略称: 精工技研)
Seikoh Giken Co.,Ltd. (略称: Seikoh Giken)
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講演者
発表日時 2018-07-26 13:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 PEM 
資料番号  
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数 IEICE- 
発行日  


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