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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2018-07-25 14:50 スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討 ○仁科泉美・藤本大介（奈良先端大）・衣川昌宏（仙台高専）・林 優一（奈良先端大）  ISEC2018-21 SITE2018-13 HWS2018-18 ICSS2018-24 EMM2018-20 |
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| 抄録 | （和） | 音声出力機能のあるスマートデバイスから電磁波を通じて音情報が漏えいする脅威が報告されている。電磁波を通じた音情報の漏えいを抑制するには、音情報を伝搬する周波数帯や音情報の漏えいを引き起こすデバイス部位を把握することが有用であるが、これまでこうした検討は十分なされてない。本稿では、漏えいを抑制するために必要となる基礎知見を与えるため、音声再生に関連するデバイスの構成部品から放射される電磁波を測定し、放射電磁界の強度に関する分布図を作成することで漏えい源となる部位を絞り込む。そして、分布図によって絞り込まれた範囲内に漏えい源があることを確認するため、特定した範囲内にある電子素子を取り出し、素子単体から放射される電磁波を測定し、AM復調することにより音情報の漏えい源を特定する。 |
| （英） | A threat of leakage of sound information via electromagnetic field from a smart device having an audio output function has been reported. To suppress leakage of sound information through EM waves, it is useful to search frequency bands that propagate sound information and electrical components that cause leakage of audio information. However, there is not enough discussion about the electrical components causing information leakage. In this paper, to provide the fundamental knowledge necessary to suppress leakage, we measure the EM field including audio information radiated from the components of the device and create cartography relating to the intensity of the radiated EM field. Thereby, we are able to find out the part causing information leakage. Finally, we verify the leakage source by extracting component and measuring EM waves from the component. | |
| キーワード | （和） | 電磁情報漏洩 / スマートデバイス / 音情報漏えい / 放射電磁波測定 / Cartography / / / |
| （英） | EM information leakage / Smart device / Sound information leakage / EM radiated signal measurement / Cartography / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 153, HWS2018-18, pp. 83-88, 2018年7月. | |
| 資料番号 | HWS2018-18 | |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ISEC2018-21 SITE2018-13 HWS2018-18 ICSS2018-24 EMM2018-20 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS ISEC SITE ICSS EMM IPSJ-CSEC IPSJ-SPT |
| 開催期間 | 2018-07-25 - 2018-07-26 |
| 開催地（和） | 札幌コンベンションセンター |
| 開催地（英） | Sapporo Convention Center |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 |
| テーマ（英） | Security, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2018-07-HWS-ISEC-SITE-ICSS-EMM-CSEC-SPT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on Identification of EM Leakage Source of Audio Information from a Smart Device |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁情報漏洩 / EM information leakage |
| キーワード(2)（和/英） | スマートデバイス / Smart device |
| キーワード(3)（和/英） | 音情報漏えい / Sound information leakage |
| キーワード(4)（和/英） | 放射電磁波測定 / EM radiated signal measurement |
| キーワード(5)（和/英） | Cartography / Cartography |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 仁科 泉美 / Izumi Nishina / ニシナ イズミ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa / キヌガワ マサヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 仙台高等専門学校 (略称： 仙台高専) National Institute of Technology, Sendai College (略称： NIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2018-07-25 14:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | ISEC2018-21, SITE2018-13, HWS2018-18, ICSS2018-24, EMM2018-20 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.151(ISEC), no.152(SITE), no.153(HWS), no.154(ICSS), no.155(EMM) |
| ページ範囲 | pp.83-88 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) |
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