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講演抄録/キーワード
講演名 2018-06-04 13:20
[ポスター講演]Certifying Quantum Randomness by Probability Estimation
Yanbao ZhangNTT-BRL)・Emanuel KnillPeter BierhorstNIST
抄録 (和) We introduce probability estimation, a broadly applicable framework to certify
randomness in a finite sequence of measurements subject to readily verified physical
constraints and with respect to classical side information. Examples include
randomness from single-photon polarization measurements and device-independent
randomness from Bell tests. Advantages of probability estimation include
adaptibility to changing conditions, arbitrary stopping when goals are achieved,
no stationarity requirements, optimal randomness rates, applicability to Bell tests
with small violations, and unsurpassed finite-data efficiency. 
(英) We introduce probability estimation, a broadly applicable framework to certify
randomness in a finite sequence of measurements subject to readily verified physical
constraints and with respect to classical side information. Examples include
randomness from single-photon polarization measurements and device-independent
randomness from Bell tests. Advantages of probability estimation include
adaptibility to changing conditions, arbitrary stopping when goals are achieved,
no stationarity requirements, optimal randomness rates, applicability to Bell tests
with small violations, and unsurpassed finite-data efficiency.
キーワード (和) randomness / device independence / security analysis / loophole-free Bell test / / / /  
(英) randomness / device independence / security analysis / loophole-free Bell test / / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN  
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研究会情報
研究会 QIT  
開催期間 2018-06-04 - 2018-06-05 
開催地(和) 広島国際会議場 小会議室ラン 
開催地(英) ICCH Ran 
テーマ(和) 量子情報, 一般 
テーマ(英) Quantum Information 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 QIT 
会議コード 2018-06-QIT 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Certifying Quantum Randomness by Probability Estimation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) randomness / randomness  
キーワード(2)(和/英) device independence / device independence  
キーワード(3)(和/英) security analysis / security analysis  
キーワード(4)(和/英) loophole-free Bell test / loophole-free Bell test  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Yanbao Zhang / Yanbao Zhang /
第1著者 所属(和/英) NTT Basic Research Lab (略称: NTT)
NTT Basic Research Lab (略称: NTT-BRL)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Emanuel Knill / Emanuel Knill /
第2著者 所属(和/英) National Institute of Standards and Technology (略称: NIST)
National Institute of Standards and Technology (略称: NIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Peter Bierhorst / Peter Bierhorst /
第3著者 所属(和/英) National Institute of Standards and Technology (略称: NIST)
National Institute of Standards and Technology (略称: NIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2018-06-04 13:20:00 
発表時間 90分 
申込先研究会 QIT 
資料番号  
巻番号(vol) vol. 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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