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講演抄録/キーワード
講演名 2018-04-13 11:35
白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス
吉田直樹横浜国大)・上羽陽介西尾俊平大八木康之大日本印刷)・法元盛久コンパス・トゥーワン)・竪 直也九大)・成瀬 誠NICT)・松本 勉横浜国大
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抄録 (和) ナノメートルオーダのランダムな凹凸の表面を有するナノ人工物を,白色干渉計によって得られる干渉画像を用いて認証する人工物メトリック・システムを提案し,その基本原理を実証する. 
(英) We propose an artificial-metric system which authenticates nanostructures with random irregularities by means of an interference fringe image captured by a white light interferometer.
キーワード (和) ナノ人工物メトリクス / 白色干渉計 / 干渉画像 / セキュリティ / ID管理 / / /  
(英) Nano-artifact metrics / White light interferometer / Interference image / Security / Identity Management / / /  
文献情報 信学技報, vol. 118, no. 3, HWS2018-3, pp. 11-16, 2018年4月.
資料番号 HWS2018-3 
発行日 2018-04-06 (HWS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 HWS  
開催期間 2018-04-13 - 2018-04-13 
開催地(和) 九州大学医学部 百年講堂 
開催地(英)  
テーマ(和) ハードウェアセキュリティ, 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2018-04-HWS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 白色干渉計を用いた光学的3Dナノ人工物メトリクス 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Optical 3D Nano Artifact-metrics using White Light Interferometry 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ナノ人工物メトリクス / Nano-artifact metrics  
キーワード(2)(和/英) 白色干渉計 / White light interferometer  
キーワード(3)(和/英) 干渉画像 / Interference image  
キーワード(4)(和/英) セキュリティ / Security  
キーワード(5)(和/英) ID管理 / Identity Management  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 直樹 / Naoki Yoshida / ヨシダ ナオキ
第1著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 上羽 陽介 / Yosuke Ueba / ウエバ ヨウスケ
第2著者 所属(和/英) 大日本印刷株式会社 (略称: 大日本印刷)
Dai Nippon Printing Co., Ltd. (略称: DNP)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 西尾 俊平 / Shumpei Nishio / ニシオ シュンペイ
第3著者 所属(和/英) 大日本印刷株式会社 (略称: 大日本印刷)
Dai Nippon Printing Co., Ltd. (略称: DNP)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 大八木 康之 / Yasuyuki Ohyagi / オオヤギ ヤスユキ
第4著者 所属(和/英) 大日本印刷株式会社 (略称: 大日本印刷)
Dai Nippon Printing Co., Ltd. (略称: DNP)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 法元 盛久 / Morihisa Hoga / ホウガ モリヒサ
第5著者 所属(和/英) コンパス・トゥーワン (略称: コンパス・トゥーワン)
Compass21 (略称: Compass21)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 竪 直也 / Naoya Tate / タテ ナオヤ
第6著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: KU)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 成瀬 誠 / Makoto Naruse / ナルセ マコト
第7著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム
第8著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: YNU)
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講演者
発表日時 2018-04-13 11:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 HWS 
資料番号 IEICE-HWS2018-3 
巻番号(vol) IEICE-118 
号番号(no) no.3 
ページ範囲 pp.11-16 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-HWS-2018-04-06 


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