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講演抄録/キーワード
講演名 2018-03-05 14:35
[ポスター講演]SIFT特徴点に基づく電子透かし法の改善 ~ 変動拡大率の導入による特徴領域の歪み低減 ~
林 誠人川村正樹山口大
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抄録 (和) SIFT特徴点を用いた内田と川村の方法には2つの問題がある.
1つは,特徴点が埋め込み領域の中心に位置するので,埋め込み処理の際に特徴点の画素値が上書きされることである.
もう1つは,埋め込み領域の正規化が歪みの原因となり,ステゴ画像から透かしを抽出できなくなることがあることである.
この問題を解決するために,2つの方式を提案する.
1つは,ドーナツ型埋め込み領域であり,特徴点を含む中心ブロックを除いた正規化領域に透かしを埋め込む方式である.
もう1つは,小さなSIFT特徴領域に対して大きな拡大率を用いる方式である.
ステゴ画像からより多くの特徴点を抽出することにより,より高い誤り訂正が可能となる.
そのため,埋め込みに用いた特徴点が抽出過程で検出されることが重要である.
従来法と提案手法の検出率とビット誤り率,および,画質を評価した.
その結果,提案手法の画質は従来法と変わらないが,提案手法の検出率は従来法の2倍であり,ビット誤り率を低減することができた. 
(英) The method of Uchida and Kawamura, which uses SIFT feature points, has two problems. 
One is that the pixel values of the feature points are overwritten in the embedding process, since the points are located in the center of the embedding regions. 
The other is that the normalization of the embedding regions is also a cause of distortion, and then the watermarks might be not always extracted from the stego-images. 
In order to solve the problems, we propose two techniques. 
One is a doughnut-shaped embedding region, that is, watermarks are embedded in the normalized region excluding the center block which includes the feature point. 
The other is an introduction of a large magnification ratio for small SIFT feature regions. 
By extracting more feature points from a stego-image, higher error correction can be possible. 
It is important for embedded feature points to be detected at extracting process. 
We evaluated the detection ratio, bit error rate, and image quality for the conventional method and the proposed method. 
As a result, whereas the image quality of the proposed method was unchanged from the conventional one, the detection ratio of the proposed one was twice as much as conventional one, and then the bit error rate could be decreased.
キーワード (和) 電子透かし / SIFT / IHC / / / / /  
(英) Watermarking / SIFT / IHC / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 476, EMM2017-78, pp. 7-12, 2018年3月.
資料番号 EMM2017-78 
発行日 2018-02-26 (EMM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 EMM  
開催期間 2018-03-05 - 2018-03-06 
開催地(和) 奄美市名瀬公民館 
開催地(英) Naze Community Center (Amami-Shi, Kagoshima) 
テーマ(和) 画質・音質評価,知覚・認知メトリクス,人間視聴覚システム,一般 
テーマ(英) Image and Sound Quality, Metrics for Perception and Recognition, Human Auditory and Visual System, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMM 
会議コード 2018-03-EMM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SIFT特徴点に基づく電子透かし法の改善 
サブタイトル(和) 変動拡大率の導入による特徴領域の歪み低減 
タイトル(英) Improvement of SIFT feature-based watermarking method 
サブタイトル(英) Distortion reduction of feature regions by introducing variable magnification ratio 
キーワード(1)(和/英) 電子透かし / Watermarking  
キーワード(2)(和/英) SIFT / SIFT  
キーワード(3)(和/英) IHC / IHC  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 誠人 / Masato Hayashi / ハヤシ マサト
第1著者 所属(和/英) 山口大学 (略称: 山口大)
Yamaguchi University (略称: Yamaguchi Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 川村 正樹 / Masaki Kawamura / カワムラ マサキ
第2著者 所属(和/英) 山口大学 (略称: 山口大)
Yamaguchi University (略称: Yamaguchi Univ.)
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講演者
発表日時 2018-03-05 14:35:00 
発表時間 60 
申込先研究会 EMM 
資料番号 IEICE-EMM2017-78 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.476 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMM-2018-02-26 


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