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講演抄録/キーワード
講演名 2018-02-20 16:10
メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法
王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛愛媛大)・佐藤正幸勝 満徳TRL)・関口象一太陽誘電DC2017-87
抄録 (和) MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT(Multiple Look Up Table)は、複数の汎用メモリセルで構成され,隣接MLUT のアドレス線(A)とデータ線(D)をペーアで相互接続する構造となっている。本稿では、MRLD の高信頼化と歩留まり向上を目的とし,MLUT の配置配線を考慮したMLUT 間のAD 接続配線におけるブリッジ接続故障をテストする方法を提案する。また、論理シミュレーションによる提案法の有効性を確認した。 
(英) MRLD is a promising alternative to FPGA with the benefits of low production cost, low power and small delay. In order to improve the yield and reliability of MRLD, in [6] we have developed the test approaches for detecting the interconnect faults including the stuck-at and bridge faults of MRLD. However, the test method for bridge faults of MRLD presented in [6] did not consider possible bridges between any interconnects in MRLD. Therefore, in this paper, we improve the test method of [6] for detecting the bridge faults between any interconnects that takes the Place-and-Route into account. The experimental results confirmed the effectiveness of the proposed test method.
キーワード (和) 再構成論理 / MRLD / 信頼性 / 接続テスト / / / /  
(英) Reconfigurable Device / MRLD / FPGA / Reliability / Interconnect defects / Testing / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 444, DC2017-87, pp. 61-66, 2018年2月.
資料番号 DC2017-87 
発行日 2018-02-13 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード DC2017-87

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2018-02-20 - 2018-02-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2018-02-DC 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Testing the Bridge Interconnect Fault for Memory based Reconfigurable Logic Device (MRLD) 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 再構成論理 / Reconfigurable Device  
キーワード(2)(和/英) MRLD / MRLD  
キーワード(3)(和/英) 信頼性 / FPGA  
キーワード(4)(和/英) 接続テスト / Reliability  
キーワード(5)(和/英) / Interconnect defects  
キーワード(6)(和/英) / Testing  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小川 達也 / Tatsuya Ogawa / オガワ タツヤ
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 正幸 / Masayuki Sato / サトウ マサユキ
第5著者 所属(和/英) 株式会社TRL (略称: TRL)
TRL Corp. (略称: TRL)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 勝 満徳 / Mitsunori Katsu / カツ ミツノリ
第6著者 所属(和/英) 株式会社TRL (略称: TRL)
TRL Corp. (略称: TRL)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 関口 象一 / Shoichi Sekiguchi / セキグチ ショウイチ
第7著者 所属(和/英) 太陽誘電 (略称: 太陽誘電)
TAIYOYUDEN (略称: TAIYOYUDEN)
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講演者
発表日時 2018-02-20 16:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2017-87 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.444 
ページ範囲 pp.61-66 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2018-02-13 


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